電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
閱讀:1669 發布時間:2011-5-23
電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
標準簡介 |
本部分規定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化》所用試驗設備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替GB/T5170.2—1996。與GB/T5170.2—1996相比,技術內容主要有如下變化:———標準名稱“電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備”更改為“電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備”; ———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”; ———增加了“術語和定義”一章; ———增加了“溫度波動度”檢驗項目; ———增加了“溫度均勻度”檢驗項目; ———增加了“每5min溫度平均變化速率”檢驗項目; ———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目; ———增加了“溫度過沖量”檢驗項目; ———增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目; ———增加了“噪聲”檢驗項目; ———刪除了“相對濕度”檢驗項目; ———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統其測量結果的擴展不確定度(k=2)的要求 ———增加了“檢驗負載”一章; ———修改了“溫度變化速率”的計算方法; ———測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據; ———刪除了“檢定過程中的處理”部分; ———附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”; ———刪除了附錄B “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。 |
前言 |
GB/T5170目前包含以下幾部分: ---GB/T5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則 ---GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備 ---GB/T5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備 ---GB/T5170.8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備 ---GB/T5170.9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備 ---GB/T5170.10-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備 ---GB/T5170.11-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備 ---GB/T5170.13-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺 ---GB/T5170.14-1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺 ---GB/T5170.15-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺 ---GB/T5170.16-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 穩態加速度試驗用離心機 ---GB/T5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備 ---GB/T5170.18-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環試驗設備 ---GB/T5170.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備 ---GB/T5170.20-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備 本部分是GB/T5170的第2部分。 本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術內容主要有如下變化: ---標準名稱電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備更改為電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備; ---所有用詞檢定更改為檢驗; ---增加了術語和定義一章; ---增加了溫度波動度檢驗項目; ---增加了溫度均勻度檢驗項目; ---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗項目; ---增加了溫度指示誤差檢驗項目; ---增加了溫度過沖量檢驗項目; ---增加了溫度過沖恢復時間檢驗項目; ---增加了噪聲檢驗項目; ---刪除了相對濕度檢驗項目; ---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統其測量結果的擴展不確定度(k=2)的要求; ---增加了檢驗負載一章; ---修改了溫度變化速率的計算方法; ---測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據; ---刪除了檢定過程中的處理部分; ---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗項目的選擇; ---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。 附錄A 為規范性附錄。 本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會(SAC/TC8)提出并歸口。 本部分起草單位:信息產業部電子第五研究所。 本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。 本部分所代替標準的歷次版本發布情況為: ---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985; ---GB/T5170.2-1996。 |
售后服務承諾:
用戶的滿意是我們服務的宗旨,完善的售后服務使您解除一切后顧之憂,我們堅信一個好的企業賣出去的不僅僅是一臺好的產品,更重要的是良好的服務。
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宏展儀器主營:
紫外光耐氣候試驗箱;紫外線加速耐候試驗機;高低溫交變濕熱箱;可程式恒溫恒濕試驗機;溫濕度檢定箱;高低溫恒溫試驗箱;高低溫沖擊試驗箱; 蓄溫式冷熱沖擊試驗機;步入式環境實驗室;步入式恒溫恒濕試驗室;精密烘箱;鼓風干燥箱;鹽水噴霧試驗機;模擬運輸試驗機;跌落試驗機;蒸氣老化試驗機;快速溫變應力篩選試驗機[ESS];其它環境試驗設備
另可依客戶要求之尺寸制作試驗室,滿足客戶的要求。
歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!
北京宏展環境科技有限公司
地址:北京市豐臺區和義東里6區12樓603室
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電子郵件:hui.li@hongzhan.com.hk
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