NanoMap-500LS 三維輪廓儀（接觸式）
| 參考價(jià) | ￥ 370000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱(chēng) aep technology中國(guó)辦事處
- 品牌
- 型號(hào) NanoMap-500LS
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2016/3/22 7:33:35
- 訪問(wèn)次數(shù) 1206
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
三維形貌儀、三維輪廓儀、形貌儀、輪廓儀、粗糙度儀、輪廓度儀、臺(tái)階儀、平面度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式形貌儀、白光干涉形貌儀、白光干涉輪廓儀、白光干涉臺(tái)階儀、白光干涉粗糙度儀、激光共焦式臺(tái)階儀、激光共焦式粗糙度儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式粗糙度儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式粗糙度儀、激光雷達(dá)、膜厚測(cè)量?jī)x、光線陀螺、慣導(dǎo)傳感器,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)，劃痕儀，納米壓痕儀，納米劃痕儀，微米劃痕儀
三維輪廓儀（接觸式）NanoMap-500LS
利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測(cè)技術(shù)和超平整參照面-大型樣品臺(tái)掃描技術(shù)，并與壓電陶瓷（PZT）掃描*結(jié)合，可以再不喪失精度的情況下，即得到超大樣品整體三維輪廓圖，又呈現(xiàn)局部三維形貌像。其中樣品臺(tái)掃描參考平面使用超高平坦度光學(xué)拋光平臺(tái)，有效解決了以往樣品臺(tái)掃面，由于絲杠公差引起的測(cè)試結(jié)果有亞微米量級(jí)的誤差。
三維輪廓儀NanoMap-500LS主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過(guò)于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。
三維輪廓儀NanoMap-500LS熱噪聲是同類(lèi)產(chǎn)品zui低的。垂直分辨率可達(dá)0.1 nm 可測(cè)跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…）；
：aep Technology
：+86-
+86-
+86-何
公司：www.aeptechnolongy.com.cn
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)