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PCB/半導(dǎo)體產(chǎn)品電鍍鍍層測厚儀 XRF-2000L

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海益朗儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地 韓國
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2018/1/27 20:07:47
  • 訪問次數(shù) 1707

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上海益朗儀器有限公司(www.shylyq.com)一直致力于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機(jī)構(gòu),半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造較大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!
公司部分經(jīng)營品牌及產(chǎn)品如下:
韓國進(jìn)口Micro Pioneer品牌X射線鍍層測厚儀(XRF-2000L;XRF-2000PCB;XRF-2000H)及Rohs檢測設(shè)備(XRF-2000R)

德國進(jìn)口Roentgenanalytik品牌X熒光分析儀(ComPact eco;ComPact eco-pcb,ComPact 5;ComPact 5PIN;Maxxi 4(已停產(chǎn),服務(wù)仍在繼續(xù));Maxxi 5;Maxxi 5PIN)

美國進(jìn)口UPA品牌β射線涂鍍層測厚儀(MP-700(已停產(chǎn),服務(wù)仍在繼續(xù));MP-900(帶霍爾效應(yīng)功能)CMS(手持式);磁感應(yīng)/電渦流涂層測厚儀(D-1500;D-3000;D-3000 PLUS);孔銅測厚儀/面銅測厚儀(CD-8);及各種涂鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

美國Matrix品牌手持式X射線鍍層測厚儀(HMX System)

俄羅斯進(jìn)口Intron品牌孔銅厚度測量儀及覆銅板板厚測量儀(ITM-51,ITM-52(已停產(chǎn),服務(wù)仍在繼續(xù));ITM-525)

美國進(jìn)口KOCOUR品牌電解/庫侖測厚儀(電位差測試儀)(model6000)及電解測試液和標(biāo)準(zhǔn)片

美國進(jìn)口START品牌銅箔測厚儀(SM6000)

日本進(jìn)口KETT品牌涂層測厚儀(LZ-990;LE/LH/LZ-370;LE/LH/LZ-373;LE/LH/LZ-200J;等等型號涂層測厚儀)

韓國進(jìn)口K-MAC品牌OSP膜厚儀(ST4080-OSP)

美國進(jìn)口SCS品牌離子污染測試儀(OMEGAMETER 600SMD)

美國進(jìn)口Seintl(S.E.)品牌輻射測量表(MC1K,monitor4,inspector等)

美國進(jìn)口Robotic品牌可焊性測試儀(202TL)

美國進(jìn)口CalMetics品牌鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片(標(biāo)樣,標(biāo)塊,標(biāo)準(zhǔn)塊)每片均含NIST證書。

日本進(jìn)口KYORITSU產(chǎn)品:

簡易水質(zhì)測定組-鉛 型號:SPK-Pb
氨離子蒸餾檢驗(yàn)器(Distiller Set for Ammonium) 型號:WA-NH4-D
陰離子介面活性劑測定組 型號:WA-DET
水質(zhì)離子測試滴定組 Drop Test 型號 WAD-
水質(zhì)離子試驗(yàn)紙 型號:WAP-
簡易水中油脂濃度測定組 型號 WA-OIL-S
紙張表面pH測試組 型號 MPC-
pH Test Paper PH試驗(yàn)紙  型號: PHG-BCG PHG-PLS
單項(xiàng)目水質(zhì)計(jì)(DIGITAL PACK TEST )型號:DPM-
全氰蒸餾檢驗(yàn)器(detector set total cyanide) 型號:WA-CNT
Digital Water Analyzer 多功能水質(zhì)分析儀 型號:Lambda-9000
多項(xiàng)目水質(zhì)計(jì) 型號:DPM-MT
簡易水質(zhì)離子測試包 型號:WAK-/ZAK-/KR
水質(zhì)測定用試藥 型號:LR-

美國進(jìn)口Walchem產(chǎn)品:
    鍍鎳自動(dòng)添加藥水控制器(型號 WNI310 WNI410 WNI420) 
    鍍銅/蝕銅自動(dòng)添加藥水控制器(型號 WCU310 WCU410 WCU420)
    PH/ORP傳訊器 / 監(jiān)控器備有W-130,W-230 ,WPH310 ,WPH320,WPH410,WPH420
    電導(dǎo)率自動(dòng)添加藥水控制器WEC310,WEC410
    WCT400/410冷卻塔控制器;WDT400/410雙路輸入冷卻塔控制器 
    鍋爐水處理控制器。備有WBL300/310、WBL400/410、WCM300及WCM400/410。 
    Web Master ONE在線分析過程控制器
    WEL探頭電極等相關(guān)耗材配件

美國進(jìn)口EXTEC金相磨拋機(jī),低速精密切割機(jī),高速切割機(jī),鑲嵌機(jī),全自動(dòng)研磨拋光機(jī),金相切割碟,金相切割冷卻液,研磨砂紙,拋光絨布,鑲嵌料,拋光粉,拋光液,拋光膏,凝膠杯,樣片夾,環(huán)氧基樹脂套件,丙烯酸樹脂套件

德國SCAN-DIA快速丙烯酸凝膠套件,真空抽氣泵,超聲波清洗機(jī)等其他金相設(shè)備及耗材。

日本 Shoda Techtron品牌 Model : VT-210 V-Score Checker( V槽殘厚測量儀)

日本進(jìn)口IWAKI品牌計(jì)量泵(ES-B/ES-C/EHN)

美國KOCOUR品牌哈氏槽,整流器,陰極片,陽極片

美國KOCOUR品牌離心機(jī),離心管,用于測定硫酸根離子

美國CHEMetrics 水質(zhì)分析套件及水質(zhì)分析儀、試劑

美國Dickson 溫濕度記錄儀

美國Extech 全線產(chǎn)品

涂鍍層測厚儀,涂鍍層標(biāo)準(zhǔn)片,水質(zhì)簡易測定器,輻射測量表,哈氏槽實(shí)驗(yàn)設(shè)備,鍍層內(nèi)應(yīng)力測試儀,離子污染測試儀,硫酸根快速測定儀,水質(zhì)分析儀

PCB/半導(dǎo)體產(chǎn)品電鍍鍍層測厚儀 XRF-2000L

適用于測量PCB/半導(dǎo)體產(chǎn)品鍍層厚度測試

機(jī)箱尺寸 : 610 W x 670 D x 490 H 
可測量樣品大小 : 550 W x 550 D x 30 H 
XYZ軸移動(dòng)范圍 : 200 W x 150 D x 30 H 
zui大承重 : 3 KG

熒光X-射線鍍層厚度測量
●熒光X-射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征
◆ 可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
◆ 可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
◆ 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外,也適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
◆ 備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
● 熒光X-射線儀器的測量原理
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度,來進(jìn)行定性和定量分析。
● 鍍層厚度的測量方法
鍍層厚度的測量方法可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法(理論演算方法) 2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光 X射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。 之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。FP法即是Fundamental Parameter Method的簡稱,即基本參數(shù)法
① 標(biāo)準(zhǔn)曲線法
經(jīng)X射線照射后,鍍層和底材都會(huì)各自產(chǎn)生熒光X射線,我們必須對這兩種熒光X射線能夠辨別,方能進(jìn)行鍍層厚度的測量。也就是說,鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的。這是測量鍍層厚度的先決條件。
對某種金屬鍍層樣品進(jìn)行測量時(shí),基于鍍層厚度、狀態(tài)的不同,所產(chǎn)生的熒光X射線的強(qiáng)度也不一樣。
鍍層厚度測量時(shí),可采用兩種不同方法,一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度,稱為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度,稱為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來區(qū)分使用。
鍍層厚度測量時(shí),測量已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系,并做出標(biāo)準(zhǔn)曲線。然后再測量未知樣品的熒光X射線強(qiáng)度,得到其鍍層厚度。但是需注意的是,熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強(qiáng)度來求得單位面積的元素附著量,再除以元素的密度來算出其厚度。所以,對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品,需要進(jìn)行修正。
② 薄膜FP法
采用薄膜FP法,只需要比標(biāo)準(zhǔn)曲線法更少的標(biāo)準(zhǔn)樣品,就能簡單迅速地得到定量的結(jié)果。
如果樣品均勻,所使用分析線的強(qiáng)度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來表示。換句話說,從任意組成的樣品所產(chǎn)生的分析線強(qiáng)度,都可以從這基本參數(shù)來計(jì)算出,所以我們稱這種方法為基本參數(shù)法。
如果熒光X射線產(chǎn)生的深度當(dāng)做限大來考慮,這方法就適用于塊體樣品;如果將熒光X射線產(chǎn)生的深度當(dāng)做非常小的值(臨界厚度以下)來考慮,這方法就可以適用于薄膜樣品。
如上所述,F(xiàn)P法的zui大特征是可對塊體樣品進(jìn)行成分分析到薄膜樣品的成分與厚度同時(shí)進(jìn)行分析與測量。
● 儀器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
① 測量部分的結(jié)構(gòu)
用于照射(激發(fā))的X射線是采用由上往下照射方式,用準(zhǔn)直器來確定X射線的光束大小。
樣品的觀察是利用與照射用的X射線同軸的CCD攝像機(jī)所攝制的圖像來確定想要測量的樣品位置。標(biāo)準(zhǔn)配備了多種尺寸的準(zhǔn)直器可根據(jù)需要調(diào)整照射X射線的光束大小來決定測量面積,zui小可測量面積是40umф。
② X射線操作部分(X-ray station)
Excel和Word是標(biāo)準(zhǔn)配置,利用這些軟件,我們可以簡單快速地進(jìn)行測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理及測量結(jié)果報(bào)告書的編輯和打印。
技術(shù)參數(shù)
儀器規(guī)格及參數(shù)

X射線管

油冷式超微細(xì)對焦點(diǎn)X射線管

靶材:鎢(W)、鋁(AL)、鉬(MO)

管電壓:0~50kv

管電流:0.1mA

照射方式由上往下垂直照射方式
檢測器正比例計(jì)數(shù)管(PC)
儀器校正密度校正,標(biāo)準(zhǔn)樣品校正
檢測濾片Co片,Ni片可選
準(zhǔn)直器固定型或自動(dòng)型
固定型:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.1x0.4mm
自動(dòng)型:0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.4mm
輸入電壓AC220V
溫度控制前置放大及主機(jī)溫度控制
工作溫度室溫(22~25℃)

真空樣品室

排氣所需時(shí)間

沒有
可測量元素范圍鈦(Ti)—鈾(U)
可測量厚度范圍原子序:22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um
測量時(shí)間10~30s
操作接口Windows XP
標(biāo)準(zhǔn)曲線.自動(dòng)做標(biāo)準(zhǔn)曲線功能
.多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)曲線
.標(biāo)準(zhǔn)曲線的曲線表示
測量功能.常規(guī)測量(自動(dòng)測量功能)
.設(shè)定輸出方式功能
.確認(rèn)測量位置功能
.自動(dòng)測量條件設(shè)定(管電流,1次及2次濾波器,ROI,NF濾波器設(shè)定)
.薄膜FP法軟件
自動(dòng)測量功能.測量位置的(X、Y、Z)
.用鼠標(biāo)在畫面上輸入
.同一式樣的重復(fù)測量功能
.確認(rèn)測量位置功能(圖示)
.原點(diǎn)的設(shè)定功能(可記憶每個(gè)檔案的原點(diǎn))
.保存原點(diǎn)的影像功能
.原點(diǎn)的補(bǔ)正功能(位置滑動(dòng)角度補(bǔ)正功能)
補(bǔ)正功能.底材補(bǔ)正
.已知樣品補(bǔ)正
.自已輸入補(bǔ)正(密度補(bǔ)正)
定性分析功能.KLM標(biāo)示
.ROI設(shè)定數(shù):50
.能譜表示功能
.能譜比較標(biāo)示功能(2段標(biāo)示.重疊對照標(biāo)示.扣除標(biāo)示)
.坐標(biāo)尺寸設(shè)定功能(強(qiáng)度、能量)
.能譜,樣品畫面的保存功能
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng).統(tǒng)計(jì)數(shù)值的表示:平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,Cp,Cpk,zui大值,zui小值,數(shù)值范圍
.?dāng)?shù)據(jù)的群組分類功能
.*數(shù)據(jù)的抽出功能
.X管理圖
.X-R管理圖
.直方柱狀圖
.等高線,俯視圖表示
其它功能.畫面拷貝功能
.樣品臺(tái)坐標(biāo)標(biāo)示功能
.儀器維修調(diào)整功能
.檢測報(bào)告的自動(dòng)做成
安全功能.X射線電源的鑰匙開關(guān)
.測量中樣品臺(tái)門扇鎖閉功能

產(chǎn)品應(yīng)用

產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品應(yīng)用例
IC封裝導(dǎo)線架,BGA,BCC,F(xiàn)lip-Chip,散熱片

Sn-Pb/xx,Ag/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Ni-P/xx,Cr/xx,Sn/xx,

Au/Pd/Ni/Cu.Solder Bump…

導(dǎo)線架導(dǎo)線架Ag/xx
PCB FPCBGA,TBGA,TAB

Sn-Pb/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Sn/xx…

含溴的雙層PCB

端子工業(yè)連接器Sn-Pb/xx, Au/Ni/Cu, Ni-P/xx ﹡), Ag/xx, Ni/Cu…
被動(dòng)組件芯片電阻,電容,電感,熱敏電阻Sn-Pb/Ni/xx,Sn/Ni/xx,Au/Ni/xx…
螺絲工業(yè)螺絲Zn/xx, Ni/xx, Cu/xx…
電鍍線
其它工業(yè)探針,馬達(dá),石英振動(dòng)器,電線電纜,裝飾品Au/Ni/xx, Rh/xx, Cr/xx, Sn-Pb/xx




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