納米焦點DR檢測系統 超高分辨率納米焦點DR檢測系統 修改
參考價 | ¥ 8000000 |
訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海恩迪檢測控制技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 納米焦點DR檢測系統
- 產地 上海
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2018/5/16 11:40:23
- 訪問次數 418
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超高分辨率納米焦點DR檢測系統
關鍵特征:
- 190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點射線
- JIMA卡空間分辨率測試可達0.5微米
- 支持多種平板探測器,探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米
主要技術規格:
微米焦點射線管 | 類型 | 穿透型納米焦點射線管 |
zui大管電壓 | 190kV/225kV/240kV | |
冷卻 | 封閉式自循環冷卻 | |
焦點大小 | 0.5微米(采用JIMA卡測試) | |
探測器 | 類型 | 非晶硅平板探測器 |
像素大小 | 100um /127um /139um/200um | |
像素數量 | 平板探測器:>2048′2048 | |
機械系統 | 類型 | 高精度機械系統 |
zui大有效檢測范圍 | 可定制化 | |
zui大承重 | 可定制化 | |
旋轉 | nx3600 | |
軟件 | 類型 | 二維射線檢測 |
軟件功能 | 系統控制、二維射線檢測、平板探測器校正、圖像處理、灰度分析、圖像濾波、測量功能、支持定制化軟件功能 |