• 新一代LAB火花直讀光譜儀集元素分析的偉大創新于一身。穩定性，靈活性和全面功能融為- -體。雙檢測器或全CCD光學系統配置為科研和過程/質量控制設定了全新標準。第三代全譜檢測光學系統為金屬I業提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性,穩定性和高精度的嚴格要求。LAB尤其適于檢測新材料，痕量元素，夾雜物，高純金屬以及貴金屬。LAB根據用戶要求量身定制，十種標準基體:鐵、鋁、銅、鎳、鈷、鎂、鈦、錫、鉛和鋅,可以與五種貴金屬基體:金、銀、鉑、鈀、釕組合配置。CCD光學系統中實現120-780nm波長范圍內所有元素的全譜記錄。PMT光學系統中可放置108個高性能通道，每通道配有微積分器( TRS 功能)和單火花評估(SSE功能)。

優良的元素靈活性——涵蓋15種基體、68種方法、65種元素和210種譜線（不計參考譜線）；
不需改變硬件即可快速增加元素和方法（SPECTROLAB CCD版）
?          僅需一份樣本的簡單標準化——根據斯派克´的智能校準邏輯（iCAL）——平均每日節省30分鐘（SPECTROLAB CCD版）
?          出色的易用性，操作輕松——簡化的操作界面通過專用工具欄按鈕提供清晰的選項

1、兩種配置:雙檢測器光學系統全CCD光學系統：

SPECTROLAB提供高性能火花直讀光譜儀的兩種光學系統創新設計。雙檢測器模塊實現了“混合動力”優勢模擬電子技術的檢測器光電倍增管( PMT )和數字技術電荷耦合檢測器( CCD) 呈現準確度多元素測量。適合于科研檢測新材料,痕量元素,雜物，高純金屬以及貴金屬.
全CCD模塊實現了快速,準確,非常靈活的分析性能。尤其適合快速分析和多基體,多元素分析的應用。為爐前過程控制和成品質星控制和成品質星控制提分析結果。

2、非常靈活的元素選擇：

摒棄了以往耗時,昂貴的硬件通道擴展方式。大多數SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設置?？蛇x的軟件擴展設置使得用戶甚至可以不用準備標樣制作工作曲線。

3、非常高的靈敏度

一 利益于動態背景校正等新技術,檢測限達到新水平。SPECTROL AB可以準確測定百分之- ( PPM )水平的痕元素含量。

4、高速測量：

SPECTROLAB的設計是以抓住每一一個機會來滿足 金屬分析對速度的需求。例如,高能等離子發生器光源配合*的動態預然控制，實現縮短優質試樣分析時間。因而,瞬間切換到激發測星階段。增加單位時間樣品測試數量。在許多應用中都可以實現非常短的分析時間