Renishaw TP200坐標機測頭理想性價比

觸發式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。

TP200系統組件包括：

• TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
• TP200測針模塊 — 選擇固定過行程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
• PI 200-3測頭接口
• SCR200測針交換架

具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應變片機構，比機械結構式觸發測頭的壽命更長、精度更高。還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。 

Renishaw TP200特性與優點：

• 應變片技術具有無可比擬的重復性和準確的三維輪廓測量
• 零復位誤差
• 無各向同性影響
• 六向測量能力
• 測針測量距離達100 mm（GF測針）
• 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
• 壽命 >1000萬次觸發

TP200 / TP200B測頭本體：

TP200采用微應變片傳感器，實現優異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。

TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

尺寸：

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