技術參數：
　　■  SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀粒子直徑測定
　　●  超寬動態光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm
　　●  通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化。
　　●  在單一納米粒子光學系統中，采用更低雜散光90°檢測光學系統。
　　●  SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀雙光路系統（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
　　■  Zeta電位測定
　　●  通過安裝HORIBA自主研發的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。
　　■  主要特點：
　　●  超小體積設計
　　●  可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
　　●  樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定。
　　●  HORIBA自主研發的微量電泳樣品池， 可以測定僅100μL的Zeta電位。
　　●  廣泛應用于膠質粒子、 機能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。
　　●  操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。