FT160 XRF鍍層測厚儀
- 公司名稱 日立分析儀器（上海）有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號 FT160
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/5/7 11:29:15
- 訪問次數 4909
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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 50萬-100萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
FT160 XRF鍍層測厚儀旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產率并避免代價高昂的返工或元件報廢。
FT160 XRF鍍層分析儀的多毛細管光學元件可以測量小于 50 µm 的特征上的納米級鍍層，先進的檢測器技術可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機發生前提醒您。
產品亮點
FT160 的光學和檢測器技術專為微光斑和超薄鍍層分析而設計，針對最小的特征進行了優化。
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用于從安全距離查看分析的大觀察窗
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測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標準
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IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測
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用于快速樣品設置的自動特征定位
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為您的應用優化的分析儀配置選擇
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在小于 50 µm 的特征上測量納米級鍍層
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將傳統儀器的分析通量提高一倍
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可容納各種形狀的大型樣品
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專為長期生產使用的耐用設計
| FT160 | FT160L | FT160S | |
| 元素范圍 | Al – U | Al – U | Al – U |
| 探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管陽極 | W 或 Mo | W 或 Mo | W 或 Mo |
| 光圈 | 多毛細管聚焦 | 多毛細管聚焦 | 多毛細管聚焦 |
| 孔徑大小 | 30 µm @ 90% 強度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強度（W tube） | 30 µm @ 90% 強度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強度（W tube） | 30 µm @ 90% 強度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強度（W tube） |
| XY軸樣品臺行程 | 400 x 300 mm | 300 x 300 mm | 300 x 260 mm |
| 最大樣品尺寸 | 400 x 300 x 100 mm | 600 x 600 x 20 mm | 300 x 245 x 80 mm |
| 樣品聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 |
| 測試點識別 | ? | ? | ? |
| 軟件 | XRF Controller | XRF Controller | XRF Controller |
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