ZK-TS-150L 高低溫冷熱沖擊試驗箱
- 公司名稱 依諾檢測設備（東莞）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ZK-TS-150L
- 產地 廣東省東莞市橋頭鎮
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2021/5/11 9:44:01
- 訪問次數 1138
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濕熱試驗箱，溫度循環試驗箱，冷熱循環試驗箱，溫度沖擊試驗箱，快速溫度變化試驗機，防爆型高低溫試驗箱，溫度濕度低氣壓試驗箱，步入式環境試驗箱，萬能材料拉力試驗機，電動式高頻振動試驗臺。
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件 |
高低溫冷熱沖擊試驗箱用途介紹
設備是通過高溫儲能槽與低溫儲能槽快速溫度轉換來實現對半導體、5納米芯片、動力電池、電路主板、石墨烯屏幕、華為手機屏，iPhone觸摸屏、watch在*溫和極低溫的環境中進行冷熱交替膨脹和收縮試驗，使產品中產生高溫變應力和應變來發現潛存于產品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵提前曝露。避免產品在使用過程中受到環境應力的考驗時而導致失效，對于提高產品出貨良率與降低返修次數有顯著效果。
設備編程測試程序
1.CJ602S3I
(1)高溫暴125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫150℃暴露30min，環境溫度5min，低溫-55℃暴露30min。
2.CJ602SII
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫暴露 150℃，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min。
(3)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
3.CJ603S3I
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
4.CJ603S3II
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫暴露150℃，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min。
(3)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
5.CJ605S3I
(1)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時間均30min。
(2)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
6.CJ605S3II
(1)高溫150℃暴露30min，低溫- 55℃暴露30min。
(2)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時間均30min。
(3)高溫125℃暴露30min，環境溫度暴露5 min，低溫-55℃暴露30min。
高低溫冷熱沖擊試驗箱滿足測試標準及條件
1.GB/T2423.1-2001低溫試驗方法。
2.QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規則。
3.滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。
4.SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式。
5.SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式。
6.GB/T2423.2-2001；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N。
7.GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
8.GJB150.3-86；GJB150.4-86；GJB150.5-86；GJB150.5-86溫度沖擊試驗。
9.EIA 364-32熱沖擊（溫度循環）測試程序的電連接器和插座的環境影響評估。
10.GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；GB/T 2423.22-2002溫度變化。
11.設備的型號和規格選擇如下：
型 號 內箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-TS -80L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-120L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-TS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-TS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
可按需求尺寸非標定制......
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