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小型溫度沖擊試驗箱

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 高思通儀器(江蘇)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2020/8/3 17:48:58
  • 訪問次數(shù) 919

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


        高思通儀器(江蘇)有限公司成立于2015年,一直以來我們都專精于可靠度環(huán)境測試設(shè)備的技術(shù),不斷精益求精,創(chuàng)造符合國際規(guī)范要求的可靠度應(yīng)用價值,客戶產(chǎn)業(yè)遍及于電子、半導(dǎo)體、光電、通訊、航天、機械、實驗室、汽車…等科技產(chǎn)業(yè),從產(chǎn)品研發(fā)到售后服務(wù),每一個環(huán)節(jié)之間,都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點。

         完整的設(shè)備產(chǎn)品技術(shù), 從精密零件 芯片電阻/電容/電感/IC腳座/IC連接器/多層基板產(chǎn)業(yè),高科技零件 分離式半導(dǎo)體(功率晶體/晶體管/發(fā)光二極管/二極管);集合式半導(dǎo)體(CPU/DRAM/SRAM/EPROM/快閃記憶IC/邏輯IC) 產(chǎn)業(yè), 計算機信息系統(tǒng)個人計算機/筆記型計算機/主機板/適配卡/網(wǎng)絡(luò)周邊 產(chǎn)業(yè)與有線無線通信產(chǎn)業(yè), 均可供應(yīng)完善的設(shè)備質(zhì)量與售后服務(wù).

         經(jīng)歷多年的努力, 成功研發(fā)出代表高思通技術(shù)的產(chǎn)品系列有 組合式(ATH)/超低濕(DTH)/復(fù)合式(AGREE)/等均溫(RAMP)/標(biāo)準(zhǔn)型(TH) /電池(BTH)恒溫恒濕試驗機系列產(chǎn)品,溫循(TC)快速溫變試驗機,三箱式(TS3)/移動式(TS2)/液體式(TS) 冷熱沖擊試驗機系列產(chǎn)品, 高度(HAST)/壓力(PCT)/蒸氣老化(SALT) 加速試驗機系列產(chǎn)品, 無塵式(Clean Oven )/無氧化(N2 Oven)/標(biāo)準(zhǔn)型(Oven) 精密烤箱系列產(chǎn)品.

         如今高思通茁壯成為國際性可靠度環(huán)境試驗設(shè)備的品牌之一,高思通永遠以創(chuàng)造顧客服務(wù)價值為出發(fā)點,協(xié)助客戶快速達到國際品牌的目標(biāo)。

 

電話:0512-55276629

           0512-55276630

手機:13918865552

地址:江蘇省昆山開發(fā)區(qū)朝陽東路99號

網(wǎng)址:www.qualtest.com.cn

郵箱:info@qualtest.com.cn

高低溫試驗箱,高低溫交變濕熱試驗箱,恒溫恒濕機,恒溫恒濕試驗箱,冷熱沖擊試驗箱,快速溫度變化試驗箱,鹽水噴霧試驗機,紫外線耐候老化試驗箱,精密烘箱,大型步入式老化房

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

小型溫度沖擊試驗箱控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設(shè)置短路保護,確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;

小型溫度沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗主要技術(shù)指標(biāo):

 

型號 A型 B型 C 型
GST-70H-W GST-70S-A/W GST-100S-W GST-200S GST-70L-A GST-100L-A
標(biāo)稱內(nèi)容積(升) 70 70 100 200 70 100
試驗方式 氣動風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)
性 能 高溫室 預(yù)熱上限溫度 +200℃
升溫速率 常溫→+200℃≤15min
低溫室 預(yù)冷下限溫度 ﹣77℃ ﹣75℃ ﹣75℃
降溫速率 常溫→-75℃≤55min 常溫→-75℃≤45min 常溫→-75℃≤55min 常溫→-75℃≤50min 常溫→-75℃≤50min 常溫→-75℃≤75min
試驗室 溫度偏差 ±2℃(≤+150℃時),±3℃(>+150℃時)
溫度范圍 (+60~+200)℃~(-70~0)℃ (+60~+200)℃~(-65~0)℃
溫度恢復(fù)時間 5min以內(nèi) 10min以內(nèi) 5min以內(nèi)
試樣重量  3.5kg 5kg 5kg 20kg 2.5kg 2.5kg
內(nèi)部尺寸
(mm)
W 410 410 650 650 410 650
H 460 460 460 460 460 460
D 370 370 370 670 370 370
外部尺寸
(不含凸起部分)
(mm)
W 1310 1310 1550 1550 1310 1550
H 1950 1950 1950 1950 1950 1950
D 1830 1530 1530 1830 1530 1530

 



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