Renishaw雷尼紹測頭TP200/TP20/SP25M/SP600
- 公司名稱 蘇州澤升精密機械儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/5/21 16:41:23
- 訪問次數 5664
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| 應用領域 | 化工,電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣 |
|---|
Renishaw雷尼紹測頭TP200/TP20/SP25M/SP600掃描測頭探頭探針三坐標非接觸掃描測頭，關于TP200/TP20/SP25M/SP600M/TP2-5W/SM25M/TP6/TP6A/TP7/TP7M/LP2 LP2H LP2DD LP2HDD/SP80掃描測頭型號、價格、維修、替換、回收置換等解決方案。
Renishaw雷尼紹測頭TP200/TP20/SP25M/SP600掃描測頭實物圖及技術參數：
探針接觸被測物體，與物體接觸的力通過測頭內部的彈簧來平衡，測針繞測頭內部支點轉動，造成一個或兩個節點斷開，是接觸面積減小，電阻增加，當電阻到達觸發閾值時，測頭發出觸發信號。
TP200測頭吸盤對磁場敏感。所以測量時避免與帶強磁性的夾具或工件接近，或者考慮使用防磁的測頭或者使用碳纖維、陶瓷測針。
TP20又稱三坐標三次元測頭、模塊、STD、吸盤、SF、傳感器和TP20標準測力、中測力、高測力、低測力、6way、加長模塊EM1和EM2、TP20下半組，是一款小型五向或六向機械結構式觸發測頭系統。雙部件設計，由測頭本體和可分離測針模塊組成，使用高重復性磁接頭連接。因此具備了手動或自動更換測針配置的功能，無需重新標定測針端部，大大節省了檢測循環的時間。
模塊具有多種觸發力，使測頭性能能夠符合測量需求。還有一系列測頭加長桿及一個六向模塊可供選擇。測針安裝螺紋與雷尼紹M2系列的測針匹配。
TP20系統可方便地用于坐標測量機系統的改造，并與現有觸發式測頭接口、加長桿和轉接頭兼容。
英國雷尼紹RENISHAW接觸式測頭TP200 TP200B測頭本體 A-1207-0011
雷尼紹renishaw海克斯康TP200 A-1207-0002測頭 主體 吸盤模塊
英國雷尼紹RENISHAW(Touch trigger probes)接觸式測頭TP200
Renishaw/雷尼紹TP200測頭 TP200B測頭本體 A-1207-0011
英國Renishaw雷尼紹TP200測頭 A-1207-0011 模塊 吸盤
雷尼紹RENISHAW測頭TP20測頭TP200傳感器標準測力STD吸盤模塊MED
RENISHAW測頭 雷尼紹TP200測頭 海克斯康三坐標TP200傳感器 吸盤
詳細描述
RENISHAW 雷尼紹TP20是一種緊湊型5向或6向機械定位觸發式測頭。雙部件設計，由測頭體和可分離測針模塊組成，使用高重復性磁接頭連接。
因此具備了手動或自動更換測針配置的功能，無需重新標定測針端部，大大節省了檢測循環的時
TP20套裝型號有A-1371-0290 探針工具包包括1 x標準力測頭 1 x中力模塊
TP20 側頭體
TP20 側頭體（傳感器）A-1371-0284
TP20 Non inhibit 側頭體（傳感器） A-1371-0636
TP20 模塊（吸盤）
TP20 標準測力模塊（吸盤） A-1371-0270
TP20 中測力模塊（吸盤）A-1371-0271
TP20 高等測力模塊（吸盤） A-1371-0272
TP20 低測力模塊（吸盤）A-1371-0392
Renishaw雷尼紹TP200采用微應變片傳感器，實現優異的重復性和精確的三維輪廓測量，
· 測針測量距離達100 mm（GF測針）
· 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
· 壽命 >1 000萬次觸發
Renishaw雷尼紹TP200包含TP200測頭體（傳感器）和測力模塊
A-1207-0001 包含標準測力模塊和測頭體
A-1207-0002 包含低測力模塊和測頭體
TP200傳感器（測頭體）型號為A-1207-0020
TP200B傳感器（測頭體）型號為A-1207-0056
TP200標準測力模塊A-1207-0010
TP200低測力模塊A-1207-0011
TP200 EO擴展模塊A-1207-0012
可分離TP20探針吸盤，與TP20測頭構成兩件組合，允許手動和自動更換探針，而不需要對探針進行重新校正，從而大大縮短了檢測周期。TP20根據不同的應用，提供了有各種測力和加長的吸盤，根據所環繞的顏色圈來定義。
TP20標準測力吸盤，采用的是黑色圈，是應用的一種TP20探針吸盤。
系統組件包括：
· TP20測頭體
· TP20測頭模塊 — 七種不同選擇，以適應各種應用
· MCR20模塊交換架 — 自動操作
· MSR1模塊存放架 — 手動操作
· 適合與雷尼紹的PI4-2、PI7-2或PI200連接
TP20規格
傳感器方向 | 除6W以外的所有模塊 6W | ±X、±Y、 Z ±X、±Y、±Z |
適合的接口 | PI4-2、PI7-2、PI200、UCC | |
預行程變化 | LF SF / EM1 / EM2 MF EF 6W | ±0.60 µm ±0.80 µm ±1.00 µm ±2.00 µm ±1.50 µm |
單向重復性 | LF / SF / EM1 / EM2 MF EF 6W | ±0.35 µm ±0.50 µm ±0.65 µm ±0.80 µm |
測針交換的重復性 | MCR20 手動 | ±0.50 µm ±1.00µm |
測針系列 | M2 | |
安裝方式 | M8螺紋 |
測頭模塊
目前可提供7種適合各種應用的測頭模塊系列，以端部的顏色區分。
模塊 應用測力測針長度
SF— 標準測力 | 適合大多數應用場合 | XY：0.08 N Z：0.75 N 測針：10 mm | 10 - 50 mm GF | |
LF— 低測力 | 低觸發力應用，例如橡膠密封件 | XY：0.055 N Z：0.65 N 測針：10 mm | 10 - 30 mm | |
MF— 中測力 | 需要高于測力的場合 | XY：0.1 N Z：1.9 N 測針：25 mm | 10 - 60 mm | |
EF— 高測力 | 大直徑/偏重測針組件或機器振動造成誤觸發的場合 | XY：0.1 N Z：3.2N 測針：50 mm | 10 - 60 mm | |
6W— 六向 | 在-Z方向測量，例如退刀槽 | XY：0.14 N Z：1.6 N 測針：10 mm | 10 - 50 mm | |
EM1 STD— 50 mm加長桿 | 需要50 mm加長桿的大多數應用場合 | XY：0.08 N Z：0.75 N 測針：10 mm | 10 - 50 mm | |
EM2 STD— 75 mm加長桿 | 需要75 mm加長桿的大多數應用場合 | XY：0.08 N Z：0.75 N 測針：10 mm | 10 - 50 mm |
交換架
系統組件
系統組件包括：
TP20測頭本體
TP20測頭模塊 — 七種不同選擇，以適應各種應用
MCR20或TCR20模塊交換架 — 自動操作
適合與雷尼紹的PI 7-3、PI 200-3和UCC控制器連接
感應方向 | 除六向以外的所有模塊 六向 | ±X、±Y、+Z ±X、±Y、±Z |
適合的接口 | PI 7-3、PI 200-3、UCC控制器 | |
預行程變化 | LF SF / EM1 / EM2 MF EF 六向 | ±0.60 µm ±0.80 µm ±1.00 µm ±2.00 µm ±1.50 µm |
單向重復精度 | LF / SF / EM1 / EM2 MF EF 六向 | ±0.35 µm ±0.50 µm ±0.65 µm ±1.00 µm |
測針交換的重復精度 | MCR20 手動 | ±0.50 µm ±1.00 µm |
測針系列 | M2 | |
安裝方式 | M8螺紋 |
測頭模塊
目前可提供7種適合各種應用的測頭模塊系列，以端部的顏色區分。
模塊 | 應用 | 測力* | 測針長度 | |
|---|---|---|---|---|
SF — 標準測力 |  | 適合大多數應用場合 | XY：0.08 N Z：0.75 N 測針：10 mm | 10 mm至50 mm玻璃纖維 |
LF — 低測力 |  | 低測力應用，例如橡膠密封件 | XY：0.055 N Z：0.65 N 測針：10 mm | 10 mm至30 mm |
MF — 中測力 |  | 適合需要高于標準測力的應用場合 | XY：0.1 N Z：1.9 N 測針：25 mm | 10 mm至60 mm |
EF — 高測力 |  | 大直徑/偏重測針組件或因機器振動造成誤觸發的應用場合 | XY：0.1 N Z：3.2 N 測針：50 mm | 10 mm至60 mm |
6W — 六向 |  | 在-Z方向測量，例如退刀槽 | XY：0.14 N Z：1.6 N 測針：10 mm | 10 mm至30 mm |
EM1 STD — 50 mm加長桿 |  | 大多數需要50 mm加長桿的應用場合 | XY：0.08 N Z：0.75 N 測針：10 mm | 10 mm至50 mm |
EM2 STD — 75 mm加長桿 |  | 大多數需要75 mm加長桿的應用場合 | XY：0.08 N Z：0.75 N 測針：10 mm | 10 mm至50 mm |
* 低測力方向
交換架
MCR20測頭模塊交換架用于妥善存放測頭模塊，以便快速自動交換，并且保護它們不受工作環境中的空氣污染。
TP200系統組件包括：
TP200或TP200B測頭本體（TP200B型號可承受更大的振動公差）
TP200測針模塊 — 選擇固定過行程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
PI 200-3測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向上提供保護。
特性與優點
應變片技術可實現優異的重復性和三維形狀測量精度
零復位誤差
無各向異性影響
六向測量能力
測針測量距離長達100 mm（玻璃纖維測針）
快速交換測頭模塊，無需重新標定測尖
壽命 > 1000萬次觸發
TP200/TP200B測頭本體
TP200測頭采用微應變片傳感器，可實現重復性和三維形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術具有亞微米級重復性，并且消除了機械式測頭存在的各向異性問題。測頭內部采用固態ASIC電子元器件，可確保數百萬次觸發的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同，但可承受更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。
請注意：我們不推薦將TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
規格概述 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應用 | 用于要求高精度的數控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但當出現誤觸發事件時使用。 |
感應方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復精度 (2σ µm) | 電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm | 電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm |
XY (2D) 形狀測量偏差 | 電平觸發1：±0.80 µm 電平觸發2：±0.90 µm | 電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 形狀測量偏差 | 電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.40 µm | 電平觸發1：±2.50 µm 電平觸發2：±4 µm |
測針交換的重復精度 | 使用SCR200：±0.50 µm 手動：±1 µm | 使用SCR200：±0.50 µm 手動：±1 µm |
測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
過行程測力（當位移為0.50 mm時） | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測頭和模塊） | 22 g | 22 g |
加長桿長度（如安裝在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
推薦的測針長度（M2測針系列） | SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm玻璃纖維 LF模塊：20 mm鋼質至50 mm玻璃纖維 | SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm玻璃纖維 LF模塊：20 mm鋼質至50 mm玻璃纖維 |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | SCR200 | SCR200 |
測針系列 | M2 | M2 |
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。
共有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。
模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|---|---|---|
應用 | 一般用途。 | 小直徑測球或者必須使用測力的應用場合。 | 額外過行程可使坐標測量機在較高的測頭測量速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
SCR200交換架
SCR200可以高速自動交換多達六個TP200測針模塊。SCR200由獨立的測頭接口PI 200-3供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含在低測力和標準測力組件中，每一種組件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。TP6和TP6A測頭具有不同的測頭安裝選項（分別為M8螺紋安裝和自動吸附接頭安裝）。這兩種測頭都是機械式觸發測頭，測力都可手動調節，可針對不同測針配置實現測頭性能。
它們可以配用長測針（M3系列），直徑為25 mm，可提供大的過行程量。
規格概述 | TP6 | TP6A |
|---|---|---|
主要應用 | 數控和手動坐標測量機。 | 和TP6相同，但是可以快速交換測頭，而無需重新標定。 |
感應方向 | 五軸：±X、±Y、+Z | 五軸：±X、±Y、+Z |
單向重復精度 (2s µm)（測尖） | 0.35 µm | 0.35 µm |
預行程變化360°（XY平面） | ±1 µm | ±1 µm |
重量 | 56 g | 76 g |
測針系列 | M3 | M3 |
測針測力范圍（可調） | 0.11 N至0.3 N | 0.11 N至0.3 N |
測針測力（由雷尼紹設定） | 0.11 N至0.13 N | 0.11 N至0.13 N |
測針過行程量（典型） | XY平面：±22° +Z軸：0.11 N時為5.5 mm 0.3 N時為2 mm | XY平面：±22° +Z軸：0.11 N時為5.5 mm 0.3 N時為2 mm |
與PH10系列配用的加長桿長度 | 200 mm | 200 mm |
安裝方式 | M8螺紋 | 自動吸附 |
適合的接口 | PI 7-3、PI 200-3、UCC | PI 7-3、PI 200-3、UCC |
TP7M測頭是采用應變片技術的電子測頭，具有更高的精度，消除了各向異性和復位誤差，并且使用壽命比機械式觸發測頭長很多。
通過多芯自動吸附連接，TP7M可與 PH10M PLUS/PH10MQ PLUS機動測座、PH6M固定式測座及多芯加長桿 (PEM) 系列兼容。
規格概述 | TP7M |
|---|---|
主要應用 | FMS和自動系統。通用型數控和手動坐標測量機。 |
感應方向 | 六軸：±X、±Y、±Z |
3D精度 | 不適用 |
單向重復精度 (2σ µm) | 電平觸發1：0.25 µm 電平觸發2：0.25 µm |
XY (2D) 形狀測量偏差 | 電平觸發1：±0.25 µm 電平觸發2：±0.50 µm |
XYZ (3D) 形狀測量偏差 | 電平觸發1：±0.50 µm 電平觸發2：±1 µm |
測力（測尖） | XY平面：0.02 N Z軸：0.15 N |
過行程測力 | XY平面：0.78 N Z軸：11.75 N |
重量 | 85 g |
加長桿長度（如安裝在PH10 PLUS系列測座上） | 200 mm |
推薦的測針長度（M4測針系列） | 150 mm鋼制 — 180 mm玻璃纖維 |
安裝方式 | 多芯自動吸附 |
適合的接口 | PI 7-3 |
自動測頭交換 | 自動交換架 |
測針系列 | M4 |
SP25M的直徑僅為25 mm，配備一系列掃描及觸發模塊，是小型多用途掃描測頭系統。
SP25M由兩個測頭組成，包含在同一個外殼中。用戶可在五個掃描模塊（可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針）以及一個與雷尼紹TP20系列測頭模塊兼容的轉接模塊之間進行切換。這一功能可實現利用一個測頭系統進行掃描和觸發式測頭測量。
SP25M小巧的尺寸和自動吸附安裝功能使之與PH10M PLUS/PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動吸附的多芯加長桿上。同時，這些組合具有測量能力，可檢測各種零件特征。
特性與優點
超小型掃描測頭，直徑僅為25 mm
SP25M配用一系列FCR25模塊交換系統，每個系統都可將各個SP25M系統元件存儲在每個庫位中。
SM25掃描模塊和TM25-20 TTP模塊轉接頭可直接存儲在FCR25庫位中
SH25掃描測針吸盤需要使用PA25-SH轉接頭
TP20模塊可使用PA25-20轉接頭存放
測量性能 — 獨立的光學傳感和三次多項式補償
五個模塊在各種測針長度（長達400 mm）范圍內均可實現性能
二合一測頭 — 掃描和觸發
防碰撞保護功能，測針交換簡單
快速簡便的測頭標定循環程序
適用于輪廓和形狀測量
適用于機動可重復定位測座，靈活性更強，掃描循環時間更短
設計簡潔、剛性好、可靠性更高 — 馬達或鎖定機構
SP25M模塊和測針吸盤
利用SP25M的一系列模塊組件，用戶能夠隨著時間的推移增強測頭測量能力。
每一種SM25-#掃描模塊在增益和彈簧剛性方面都經過優化處理，可適應規定的測針長度范圍。每一種模塊都有相匹配的SH25-#測針吸盤。
SH25-3和SH25-4測針吸盤是一根固定的碳纖維桿，上面安裝M3測針，可提供合適的工作長度。
同時，SP25M在使用 SM25-1/2/3/4/5掃描模塊和標準測針吸盤 (SH25-1/2/3/4/5) 時，可以安裝曲柄式（非直式）測針配置；但是在需要較大偏置的應用場合，為了實現理想測量性能，雷尼紹建議使用SH25-2A/3A/4A系列測針吸盤，該系列測針吸盤于解決此類測針組合可能帶來的問題。
SM25-1
與SH25-1配用
測針長度：20 mm至50 mm
SM25-2
與SH25-2配用
測針長度：50 mm至105 mm
SM25-3
與SH25-3配用
測針長度：120 mm至200 mm
SM25-4
與SH25-4配用
測針長度：220 mm至400 mm
SM25-5
與SH25-5配用，用于非直測針和星形測針組合
測針長度：20 mm至100 mm
TM25-20 TTP轉接模塊
與TP20觸發式模塊和加長桿配用
FCR25自動交換架
SP25M配用一系列FCR25模塊交換系統，每個系統都可將各個SP25M系統元件存儲在每個庫位中。
SM25掃描模塊和TM25-20 TTP模塊轉接頭可直接存儲在FCR25庫位中
SH25掃描測針吸盤需要使用PA25-SH轉接頭
TP20模塊可使用PA25-20轉接頭存放
FCR25
三庫位裝置適合安裝在MRS模塊交換架系統上。
FCR25庫位轉接頭插片組件
PA25-SH和PA25-20插片，用于存放SH25-#測針吸盤或TP20測頭模塊。
FCR25-L3
用于較小坐標測量機 (CMM) 和光學坐標測量機的三庫位獨立裝置。
FCR25-L6
用于較小坐標測量機和光學坐標測量機的六庫位獨立裝置。
AC3接口卡
AC3接口卡設計用于由計算機或OEM控制器（ISA總線）提供坐標測量機系統控制的應用場合。接口卡執行測頭管理功能。
SP25M測頭組件
掃描測頭
掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。
掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測頭類似。
雷尼紹提供了一系列解決方案，適用于各種尺寸和配置的坐標測量機。
掃描原理
掃描測量提供了一種從規則型面工件或復雜工件上高速采集形狀和輪廓度數據的方法。
觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中，如果特征形狀是整體誤差預算的重要考量因素，或者必須對復雜表面進行檢測，那么掃描測量可謂之選。
掃描測量需要在測頭設計、機器控制和數據分析方面采用一種不同的方法。
雷尼紹掃描測頭輕巧無電源機構（馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。獨立的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態響應。
雷尼紹RENISHAW測頭SP25M/SM25-1 2 3 4掃描式傳感器/模塊/吸盤
雷尼紹RENISHAW測頭SP600/SP600M掃描式傳感器SH600 STD測頭吸盤
雷尼紹renishaw SM25-1/SM25-2/SM25-3/SM25-4 掃描測頭模塊
Renishaw雷尼紹吸盤 海克斯康 TP20模塊 A-1371-027傳感器 測頭
三坐標測頭座 測頭安裝座 全自動測頭座 PH10T測頭座 PH10M測頭座
RENISHAW測頭 雷尼紹TP200測頭 海克斯康三坐標TP200傳感器 吸盤
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