鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

金層測厚儀測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

儀器分析原理

XTU金層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

樣品測試步驟

1）              每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”：

用戶使用“Administrator”，密碼：skyray

2）              進入測試軟件后，選擇“測試條件”

點擊“確定”，即測試條件確定（儀器已設置好）

3）              選擇“工作曲線”

如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4）              放入“Ag片”對儀器進行初始化

初始化完成后，（峰通道為1105，計數率達到一定的數，如300以上）。

5）              待測樣品測試

放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。

6）              測試完成后即可保持報告，報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。

注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。

金層測厚儀性能特點  

1. 長效穩定X銅光管；

2.半導體硅片電制冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計數盒；

3.內置天瑞儀器研發部研發的—信噪比增強器（SNE）與MCA多道分析器；

4.內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品；

5.脈沖處理器，數據處理快速準確；

6.手動開關樣品腔，操作安全方便；

7.三重安全保護模式；

8.整體鋼架結構、外型簡潔；

9.FP軟件，無標準樣品時亦可測量。