TMC SEM-Base VI 主動壓電隔振

SEM-Base® VI是下一代STACIS主動壓電消振產品。SEM-Base VI被設計用于支撐所有商用掃描電子顯微鏡（SEM）以及許多聚焦離子束（FIB）和小型雙光束儀器。SEM-Base VI具有更好的隔振性能、更快、更強大的控制器和高級圖形用戶界面（GUI）。SEM-Base VI使許多實驗室和設施達到了滿足工具制造商規格所需的地面振動水平。
SEM-Base VI采用d特的“串行結構”，其中的振動傳感器測量地面振動，而不是有效載荷振動。與其他設計不同，這確保了有效載荷共振不會限制隔振或造成不穩定。振動傳感器是低頻慣性速度傳感器，在難以測量的亞Hz范圍內具有最大靈敏度。結合我們du 特的壓電致動器技術，SEM-Base VI即使在安靜的地面上也能實現ji 高的消振水平。
SEM-Base VI可提供與以前型號平均高6 dB的隔振。此外，TMC的下一代控制器DC-2020采用了新的雙核處理器，為工具所有者和研究人員提供了一個非常簡單易用的圖形界面，可實現快速系統評估和安全操作。通過以太網連接時，DC-2020將在用戶的瀏覽器中創建SEM-Base GUI，無需安裝其他軟件或應用程序。此外，用戶也可以通過板載菜單驅動的液晶顯示器（LCD）與控制器連接。

注意：請參見SEM-Closure，這是一種專為保護SEM而設計的整體環境解決方案。它可以將SEM-Base和Mag-NetX® 固定在一個密封和溫控聲學室中 - 從而保護SEM免受振動、磁場干擾和聲學噪聲的影響。

TMC SEM-Base VI 主動壓電隔振 優勢

硬安裝技術 - SEM-Base VI與所有內部SEM振動控制系統兼容，可以從0.6 Hz開始主動減輕低頻地面振動。

主動慣性振動消除 - SEM-Base VI使用高靈敏度、低頻慣性速度傳感器，即使在安靜的地面上也能實現高水平的振動衰減。

采用壓電技術的串行設計 - d特的串行設計和專有的高力壓電技術可實現0.6 Hz至150 Hz的寬主動帶寬和從2 Hz開始減振90％的zhuo 越慣性主動振動消除性能。