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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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BeamCheck 和BeamPeek 集成CCD 光束分析儀直接探測高功率激光的光斑,以及一臺功率計用于實時監測測量激光的功率。特殊的分束系統使其可以直接用于高功率激光,極小部分功率被分配給光束分析儀進行光斑分析,而大部分功率由功率計直接探測激光功率。可在近場或焦點處測量。BeamCheck 可持續測量不大于600W 的增材加工激光,BeamPeek 體積更為小巧,可測量*大1000W 的增材加工激光不大于2 分鐘,然后自然冷卻后進行下一輪測試。

BeamCheck™

BeamCheck™
增材制造專用激光分析系統選型表
100%;">
型號 | BeamCheck | BeamPeek |
波長范圍 | 1060-1080nm | 532nm; 1030-1080nm |
功率測試范圍 | 0.1-600W | 10-1000W |
可持續測試性 | 持續測試 | <2min at 1000W |
光斑大小 | 37口m-3.5mm | 34.5口m-2mm |
焦長范圍 | 200-400mm | 150-800mm |
增材制造專用激光分析系統 增材制造專用激光分析系統