高溫老化試驗箱 可按需定制 規格齊全  

試驗目的: 是針對高性能電子產品(如:計算機整機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器等)模擬高溫、惡劣環境的可靠性測試，是提高產品穩定性、可靠性的重要手段、是各生產企業提高產品質量和競爭性的主要流程。升溫時間的測試：將溫度傳感器置于設備工作空間內任意一點，用全功率加熱，記錄工作室溫度從室溫升先達到至高點的工作溫度的時間，其結果應不超過120min。

表面溫度測試：

在試驗箱工作溫度先達到至高工作溫度并穩定2h后，用溫度計測試箱體表面的溫度，其高工作溫度不超過200℃的試驗箱，表面溫度應不大于室溫加35℃:至高工作溫度超過200℃，表面溫度應按式決定。

絕緣電阻測試：

應按GB998中第6.2條規定方法進行測試，其結果應符合電加熱器端子(包括引線)與控制系統開路時，對箱應承受電壓1500V，交流50Hz，歷時1min的絕緣強度試驗，其絕緣應不被擊穿。

絕緣強度測試：

應按GB998中第6.3條規定進行試驗，試驗結果符合電加熱器端子(包括引線)與控制系統開路時，對箱殼應受電壓1500V，交流50Hz，歷時lmin的絕緣強度試驗，其絕緣應不被擊穿。

噪聲測試：

按ZBNG61012中規定方法進行測試，其結果整機聲不高干70dB。

注：

 經過特定的試驗條件的高溫老化后，再對老化對象進行電氣參數測量，選、剔除變質或失效的元器件，盡可能把產品的早期失效消滅在正常使用之前,高溫老化試驗箱 可按需定制 規格齊全  

 這種為提高電子電工產品可靠性和延長產品使用壽命，對產品的穩定性進行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潛在“個體”(元器件)確保整機品質和期望壽命的工藝就是高溫老化的原理。

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