100GE手持式網絡測試平臺

VIAVI MTS5800-100G ,100GE 的手持式模塊化網絡測試平臺

MTS-5800-100G 手持式網絡測試儀是網絡技術人員和工程師在安裝和維護其網絡時所必需的工具。它支持傳統和新興技術，可滿足包括城域網/核心網絡、數據中心互連在內的網絡應用需求，以及商業服務測試應用需求。

100GE手持式網絡測試平臺

產品介紹；
型 號：MTS5800-100G
名 稱：MTS5800-100G 手持式100G網絡測試儀
產品簡介：MTS5800-100G手持式網絡測試儀是網絡技術人員和工程師在安裝和維護其網絡時所必需的一種工具。它支持傳統和新興技術，可滿足包括城域網 核心網絡、數據中心互連在內的網絡應用需求，以及企業服務測試應用需求。
詳細信息：
 ——全功能手持式網絡測試和光纖測試
   美國VIAVI   MTS5800-100G手持式網絡測試儀是網絡技術人員和工程師在安裝和維護其網絡時所必需的一種工具。它支持傳統和新興技術，可滿足包括城域網/核心網絡、數據中心互連在內的網絡應用需求，以及企業服務測試應用需求。
      本產品是業界最小巧的手持式雙端口 100G 測試儀，可在網絡服務生命周期的各個階段進行測試，包括光纖測試、服務激活、故障排除以及維護。5800-100G 測試儀采用包括 SFP/SFP+/SFP28 和 QSFP+/QSFP28/CFP4 在內R的接口，能夠實現管理網絡增長所的投資保護，同時又能保持較高的客戶滿意度。借助諸如光學器件自檢、以太網線路速率抓包/解碼以及 OTN 檢查等高級測試功能，技術人員現在能比以前更快、更準確地測試他們的網絡。

主要優勢
 使用全功能雙 100G 手持式設備簡化多技術測試
 擁有多觸點屏幕、腳本化工作流和清晰的通過/失敗結果呈現，更加便于現場使用
 通過流程化和可重復性，使操作更高效
 加快光纖測試、以太網業務開通和故障排除測試的速度
主要特點
 支持從 DSx/PDH （1.5M/2M） 直至 112G OTU4 的全面速率測試。
 借助業界最快的 RFC 2544和Y.1564 SAMComplete? 以太網業務開通測試（包括納秒級精度延遲測量），從而節省時間。還支持 RFC6349 TrueSpeed。
 通過現場優化光學器件自檢，確保 QSFP+/QSFP28 和 CFP4 模塊無誤運行。
 借助 OTN 檢查工作流自動化腳本，實現高速高效的OTN業務激活測試。
 支持 Viavi 具有智能鏈路（SmartLink）4100系列OTDR和COSA模塊。
 測試同步和定時，使用TEM定時模塊。
應用
 數據中心及核心網/城域網中10Mbps至100G接口處的融合以太網/IP網絡測試及故障排除。
 光纖鏈路特征分析和故障排除。
 OTN 以及傳統 SONET/SDH 和 DSx/PDH 網絡的安裝和維護。
  移動和回傳特征分析、驗證及故障排除（包括同步）。5G就緒。
 
全功能手持式工具
      可配置的 MTS5800-100G 是業界體積最小的雙端口100G手持式測試儀。它可對諸如以太網、SONET/SDH、OTN、光纖通道和CPRI/OBSAI等各種各樣的接口進行測試。
 外形緊湊，輕松便攜：17.8 x 24.1 x 8 厘米
 7 英寸超大多點觸控電容顯示屏
 類似于平板電腦的界面，使您可以輕松地在測試信息和高級工作流程之間導航
 集成的 WiFi 和藍牙功能，使您能輕松地連接測試儀表并卸載結果
 支持 SmartAccess Anywhere，可輕松通過 Android 設備或 PC 連接
 支持基于云的 StrataSync?，可實現資產管理和結果數據管理
 
與 Viavi Solutions 光纖測試工具兼容
  城域網/長距離、企業服務和數據中心技術人員現在能夠使用一臺手持式儀器，測試網絡中的幾乎任何接口以及檢測光纖設備。MTS-5800-100G與以下設備和軟件兼容：
 用于連接器端面檢測和分析的P5000i光纖顯微鏡
 用于光功率和損耗測量的MP系列光功率計
 OTDR模塊，支持光纖鏈路特征分析和故障查找智能鏈接圖功能，光學分析軟件可在一個簡單的圖標式視圖中顯示OTDR結果，對檢測到的問題進行清晰的診斷
 COSA（一種CWDM光譜分析儀）
 
經過優化，可在現場輕松使用
 固定的測試接口，不會出現可插拔模塊的松動現象
 LED 指示要測試的接口位置
 簡化的用戶界面，通過綠色或紅色直觀呈現“通過/失敗”的結果
 延長的電池續航時間，使您能夠進行更長時間的測試并下載報告
 快速啟動以開始測試
 雙端口操作可同時運行兩個測試，包括兩個100G/高速測試
 可通過擴展模塊TEM（定時擴展模塊）為網絡提供頻率同步和時間同步
 
通過光學器件自檢排除故障
      光學器件自檢是一種工作流程工具，用于驗證和排除與高速光學器件相關的性能問題。它特別適合于現場環境的測試，并可幫助排查可插拔光學器件問題。這種易于使用的測試集成了比特誤碼理論算法、時鐘偏移驗證和每波長功率監測等諸多功能。與 RS-FEC 配合使用時，它可進行糾錯前誤碼率和糾錯后誤碼率測試。