富士模塊GYG501CC2-T2E質保一年

修技巧之三  

用表檢測電路板 

1.離線檢測 

  測出IC芯片各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片 

進行比較,從而找到故障點. 

2.在線檢測 

  1)直流電阻的檢測法 

    同離線檢測.但要注意: 

    (a)要斷開待測電路板上的電源; 

    (b)表內部電壓不得大于6V; 

    (c)測量時,要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等. 

  2)直流工作電壓的測量法 

    測得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意： 

    (a)表要有足夠大的內阻,數字表為; 

    (b)各電位器旋到中間位置; 

    (c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上, 

       并應長出筆尖約5mm; 

    (d)當測量值與正常值不相符時,應根據該引腳電壓,對IC芯片正 

       常值有無影響以及其它引腳電壓的相應變化進行分析; 

    (e)IC芯片引腳電壓會受外圍元器件的影響.當外圍有漏電,短路, 

       開路或變質等; 

    (f)IC芯片部分引腳異常時,則從偏離大的入手.先查外圍元器件, 

       若,則IC芯片損壞; 

    (g)對工作時有動態信號的電路板,有無信號IC芯片引腳電壓是不 

       同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞; 

    (h)對多種工作方式的設備,在不同工作方式時IC腳的電壓是不同 

       的. 

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差模和共模噪聲

DM電流通常由di/dt主導，將在電源線和回路之間流動；DM噪聲主導較低頻率。通常很難改變di/dt的行為，而不會從根本上改變電路。通過使用被動低通EMI濾波器(例如R-C阻尼器、L-C、Pi節、T節等)來抑制間斷電流引起的振蕩，可以降低di/dt。

CM電流通常是dV/dt的函數，將在每個電源線和地面之間流動。當CM電流耦合到長導體或電纜中時，電纜可以作為天線，使CM噪聲在高頻率下更為突出。根據電纜長度和導體之間的距離以及參考地面平面，意外回路的環路面積可能非常大。有效的布局設計可以大大抑制CM，例如將導體移動到參考地面平面更近的位置，謹慎部署安全電容器，屏蔽連接的電纜束，或在CM電流路徑中放置CM電感線圈。CM電感線圈還提供了一個高阻抗串聯路徑，允許CM電流通過Y電容器形成EMI地面的分流路徑流出轉換器。

DM和CM都將對EMI做出貢獻，往往需要在設計EMI濾波器之前量化DM和CM噪聲成分以符合行業EMC標準。輸入EMI通常使用線路阻抗穩定網絡(LISN)在待測設備(DUT)的輸入端以及頻譜分析儀進行量化。

前端濾波器的設計考慮因素

通常，被動EMI濾波是噪聲抑制的見方法；然而，當濾波器以不同的負載阻抗和SMPS的不同噪聲源終止時，這可能會證明困難。這些濾波器通常是各種排列的電阻、電容和電感器。基本分量和前幾個諧波的大小，并將對整體噪聲產生的貢獻，而高階諧波的振幅在頻率增加時會逐漸減小。濾波器抑制這些噪聲成分的能力也隨著頻率的升高而增加，因此，在基頻和低階諧波處減輕噪聲是一個突出的設計挑戰。