美國UVP表面晶粒檢查燈可快速檢查加工表面的瑕疵，灰塵，異物等。主要應用：LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導體、玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查

美國UVP表面晶粒檢查燈主要特點：

• 檢查精密加工表面的瑕疵、污點、異物等

• 快速無損檢測小至10微米的瑕疵、小顆粒

• 有效地探測出生產過程是早期的污物，節省生產時間及不必要的成本

• 100瓦高強度汞燈發出543,574及576nm波長光譜

• 特制的黃色濾色片濾掉波長小于500nm的光線，防止產生熒光干擾

• 高對比度的光線能清晰檢測到精細的表面粒子

• B-100Y是鋁合金外殼; B-100YP帶塑料外殼

• 燈頭人體工學設計，易于操作

B-100Y和B-100YP

這些模型特征黃濾塊波長小于500nm時，產生在543三強的汞線，574和576nm。高對比度的光產生的細顆粒表面檢測。下降到10微米的顆粒都可見這燈。b-100y與鋁的住房建筑用塑料外殼b-100yp。這些燈的半導體晶片檢查作為光致抗蝕劑的吸收發生在450nm是zui的。

美國UVP公司生產的B-100Y表面晶粒檢查燈的規格：

UV光源：365nm長波紫外線

功率：100W

濾色片：黃光

尺寸： B-100Y：216X140mm

重量：5.33kg

電源線：2.44米

B-100YP：248X152mm

重量：5.67kg

電源線：2.44米

美國UVP公司生產的B-100Y表面晶粒檢查燈的型號：