DRE-2C導熱系數(shù)測試儀(瞬態(tài)平面熱源法)，瞬態(tài)平面導熱儀

DRE-2C導熱系數(shù)測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導熱系數(shù)。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術，用Hot Disk作為探頭的導熱系數(shù)測定儀。

Hot Disk法的優(yōu)點有：

(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間；

(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；

(3)無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面。

 主要技術指標：

1、導熱系數(shù)測定范圍：0.01—100W/mk

2、測量時間：1-600秒

3、準確度：優(yōu)于5％

4、溫度范圍：標準測量：室溫，(可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測試溫度，費用另計：如-20℃～120℃)

5、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對平整的樣品表面,粉體材料直接插入檢測；

6、儀器參考標準：ISO 22007-2008.

7、操作方便，測試速快，僅需將測試探頭夾在兩塊試樣塊中間，通過簡單的軟件點擊操作即能獲得被測試樣的導熱系數(shù)。