OCS 粒子黑點雜質檢測儀 (PS25C)，用于對透明和不透明樹脂粒子進行檢測，這些粒子通過一個料斗引入振動平臺，使用高分辨率彩色攝像機進行分析，檢測其中的缺陷、雜質或色差。
OCS粒子黑點雜質檢測儀(PS25C)，用于對透明和不透明樹脂粒子進行檢測，這些粒子通過一個料斗引入振動平臺，使用高分辨率彩色攝像機進行分析，檢測其中的缺陷、雜質或色差。PS25C可選多彈片分揀系統，對缺陷顆粒進行分揀。測量結果可實時傳輸到控制室DCS進行生產和工藝控制，以及對分揀出來的缺陷顆粒通過分析系統進行進一步評估，提升產品質量。
粒子黑點雜質檢測儀(PS25C)特點：
■可測試的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
■高性能3CMOS彩色矩陣相機
■可檢測到的zui小雜質尺寸：10μm
■處理量可達25公斤/小時，根據具體材料性能差異而不同
■結果實時可視化
■用于分揀雜質顆粒的多彈片分揀系統
兼容于以下設備：
■OCS色度測量儀(CM3)
■OCS粒子尺寸和形狀分布測試儀(PSSD）
■OCS粒子輸送系統(PTS)
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