全新的硅漂移探測器（SDD）設計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質的準確度和速度。新優化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規則表面的可重現性。此外，高性能探測器能提高計數率，增加探測痕量元素的精密度，并且實現測量較輕元素的能力。為了確保高生產率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中具有挑戰性的一項）功能設計成比傳統型號速度更快，從而大幅提高通量。

該軟件的一項內置功能可直觀標記超出預設濃度限制的預定義元素。使用精密度控制軟件的EA1400一旦達到預定義參數將自動停止分析?？稍?/span>預定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量，從而節省時間且不會影響質量計劃。

除了RoHS篩查，EA1400也能夠辨別礦渣（硅、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。

日立分析儀器產品經理Ashley-Kate McCann表示：“客戶需要我們幫助其縮短測量每件樣品的時間、簡化測量結果管理、減少操作失誤、提高效率。EA1400在滿足此類客戶需求的同時還能實現更高的檢出限，且可為當前和未來不斷變化的RoHS和其他限制物質指令提供一種篩查工具。"

日立分析儀器簡介：

日立分析儀器是日立高新技術集團旗下的一家性公司。該公司總部位于英國牛津，其在芬蘭、德國和中國有研發和組裝業務，在多個國家有銷售和支持業務。我們的產品范圍包括：

• 專業ROHS分析儀：EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析儀專用于分析限制有害物質，使用簡單快捷，可根據不斷變化的法規對其進行靈活調整。

• 手持式分析儀：數以千計的企業使用X-MET8000的精密XRF技術為合金分析、廢金屬分揀和金屬牌號篩查提供簡單、快速、無損的分析。Vulcan由LIBS激光技術驅動，可在一秒鐘內識別金屬合金；非常有利于企業處理大量金屬，是世界上速度很快的分析儀之一。

• Microspot XRF鍍層分析儀：FT160、FT110A和X-Strata可測量單層和多層鍍層（包括合金層）的鍍層厚度，適用于質量控制或過程控制程序以及研究實驗室。

• 多功能臺式XRF光譜儀：Lab-X5000和X-Supreme8000為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多個行業提供高度可靠的質量保證和過程控制。

• OES金屬分析儀：OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直讀光譜儀可用于諸多行業的高精密度金屬分析。

• 熱分析：DSC7000X、DSC7020、NEW STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100熱分析系列經過優化后堅固耐用、高度可靠且易于使用，可探測和觀察比較小的反應。

• 鋰離子電池分析：EA8000A x射線粒子污染物分析儀專用于鋰離子電池生產中快速有效的質量控制。