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BM-KLX顆粒圖像檢測儀
- 公司名稱：
- 更新時間：
- 所 在 地：
- 生產地址：
- 瀏覽次數：
- 上海民儀電子有限公司
- 2024-12-05 21:53:41
- 上海市
- BM-KLX顆粒圖像檢測儀
- 1121
【簡單介紹】
【詳細說明】
| 顆粒圖像檢測儀采用落射式柯勒照明，利用反射平行光原理觀察不透明反射物體表面結構及輪廓，輔以視頻采集系統、計算機軟件對生物細胞組織及微粒進行幾何測量分析。 |
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