目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>進(jìn)口顯微鏡>>金相顯微鏡>> sem detector掃描電鏡探測(cè)器
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更新時(shí)間：2024-04-05 16:15:27瀏覽次數(shù)：3209評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè) |
|---|---|---|---|
| 組件類(lèi)別 | 光學(xué)元件 |
這種掃描電鏡探測(cè)器是BSE探測(cè)器或背散射電子探測(cè)器，為掃描電子顯微鏡提供*的信噪比和超高的分辨率，是SEM探測(cè)器中的產(chǎn)品。這款掃描電鏡探測(cè)器適合所有的商用掃描電鏡，采用獨(dú)立設(shè)計(jì)理念， 具有標(biāo)準(zhǔn)的安裝法蘭接口，非常方便用戶(hù)的安裝和使用。
掃描電鏡探測(cè)器特點(diǎn)
采用YAG:Ce單晶閃爍體
采用閃爍晶體和光電倍增管，提供優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量
*的超低能量鍍膜技術(shù)，靈敏度可到0.5Kev
優(yōu)異的信噪比
無(wú)限的探測(cè)器壽命
HV+LV+ESEM工作模式
電動(dòng)可回縮高精密導(dǎo)臂
波紋管密封高真空系統(tǒng)
*用戶(hù)訂制化的SEM連接系統(tǒng)
BSE探測(cè)器,背散射電子探測(cè)器,SEM探測(cè)器,電鏡探測(cè)器性能
YAG:Ce閃爍體探測(cè)器提供*效率和zui小余光afterglow, decay time 衰減時(shí)間為75ns @30光子/Kev
YAG:Ce閃爍探測(cè)器外徑15mm ,內(nèi)孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任選，它限制視場(chǎng)大小。
*的技術(shù)確保0.5keV的超高靈敏度,高達(dá)1pA電子束
外部尺寸406x100x72mm
適合真空環(huán)境使用
0.01mm的重復(fù)精度
適合所有SEM的法蘭接口
部分測(cè)量結(jié)果案例
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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