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SUNX神視限定反射型光纖FD-L40，日本SUNX神視限定反射型光纖FD-L40

即使薄玻璃電路板也能繪圖

由于采用*的大透鏡，即便是薄玻璃電路板也能從側面直接檢測。另外，由于檢測范圍寬（25±12.5mm），即使玻璃電路板在不規則位置上也可進行穩定繪圖。

可檢測0.5mm的玻璃電路板

各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量，因而盒內玻璃電路板的繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外，有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測。即時反射便較差也能檢測

可用于各種玻璃的電路板

隨著玻璃電路板的大型化，其彎曲量也因此變大，但少有種可應用于左右彎曲±8°（FD-L45為±6°）的電路板。

即使的彎曲±8°也能穩定檢測

檢測距離為3～17mm（FD-L45為10～ 2 5 m m ），且由于定位誤差在0.2mm以下，因此可進行更高精度的檢測。

寬范圍、高精度檢測

以比以往更小的尺寸達到了同類中zui長的檢測距離，用于座式確認十分理想，即使對彎曲的玻璃電路板也可提供穩定的檢測。

檢測距離0～7mm

以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學系統中。此外，在無法確保安裝空間的場所、裝置中也可設置，從而大大擴展了其用途。