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偏光顯微鏡應如何校正？
偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，在地質學等理工科專業中有重要應用。偏光顯微鏡的特點，就是將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射性（各向同性）或雙折射性（各向異性）。被廣泛地應用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導體、化學等領域。
偏光顯微鏡應如何校正？
(1) 確定下偏光鏡(起偏振鏡)的振動方向：將上偏光鏡(檢偏振鏡)自鏡中推出，只用下偏光鏡觀察工作臺上。轉動工作臺，當黑云母解理縫與下偏光鏡的振動方向平行時對黑云母吸收性強，此時呈現深棕色;當解理縫與起偏振鏡的振動方向垂直時，黑云母吸收性微弱，此時晶體呈現淡黃色，據此就能確定起偏振鏡的振動方向。
(2)調整下偏光鏡的振動方向與目鏡分劃板十字線橫絲平行：將黑云母解理縫與目鏡分劃板十字線橫絲平行，轉動下偏光鏡至黑云母呈現深棕色位置，此時下偏光鏡的振動方向平行橫絲，其刻線應對準0°或180°。
(3)確定上偏光鏡(檢偏振鏡)與下偏光鏡(起偏振鏡)的振動方向正交：將黑云母切片取出，推入上偏光鏡，如果視域呈黑暗，則上、下偏光鏡振動方向正交;否則轉動上偏光鏡直至視域黑暗。