XRF應(yīng)用－無(wú)鹵測(cè)試 對(duì)于氯（Cl）元素的測(cè)量，光路優(yōu)化前后存在的差別，主要原因如下： ① 由于氯（Cl）元素?zé)晒夤庾幽芰枯^低（2.6KeV），空氣會(huì)對(duì)熒光光子產(chǎn)生較為嚴(yán)重的吸收效應(yīng)，從而降低熒光強(qiáng)度，大幅度降低測(cè)量精度。
② 空氣中惰性氣體元素氬（Ar）對(duì)氯（Cl）元素產(chǎn)生的干擾，也會(huì)對(duì)測(cè)量精度產(chǎn)生較為顯著的負(fù)面影響。 光路優(yōu)化之后明顯看出空氣中惰性氣體元素氬（Ar）對(duì)氯（Cl）元素產(chǎn)生的干擾減少。
鍍層厚度測(cè)試儀 
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