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無鹵元素檢測儀
S6000產品介紹
² S6000配置性能Si-PIN半導體探測器，達到性能的分析效果
配置性能進口Si-PIN探測器，與佳的垂直照射的光路系統和多組復合濾光片的組合，實現了廣范圍的測試需求，靈敏度的分析限。選配的SDD探測器能夠實現從Na元素更低能量范圍的測試要求。新型的Si-PIN探測器能量分辨率出色，可達145ev，分析元素時減少了譜峰重疊帶來的低能峰的物理干擾影響，提升了分析結果的準確可靠性；具有速通道的脈沖分析器能夠接收2萬以上的數率的脈沖信息，增強了測試結果的重復可靠性；電子制冷無需擔憂操作不慎帶來的損害。
² 體驗式的操作界面和簡便的導航菜單，
從新視覺方面的思考設計的體驗式的操作界面，從初級測試人員，到專業人員或層品質管理者，都能得心應手的便捷操作，帶來一種體驗式的工作界面，更快捷，更簡化。多種測試結果的輸出格式，供應商物料的篩選統計，可視化的譜圖縮放查看，明了的譜峰對比功能，常規的數據備份和的導入等等功能都可以滿足在質量和品質部門對測試結果的判定便捷性。
1. 從軟硬件的設計上帶來的便捷
通過熱源分析和空氣動力學，合理布局和降溫，保證光管和探測器有效的散熱，同時降低了噪音。
軟件功能的可操作性
EDX-S6000其他技術參數
3.1. 分析元素：探測器可分析Na~U之間元素。
3.2. 分析時間：120s(支持自定義設置)。
3.3. 配置RoHS檢測分析模型，無鹵分析模型。
3.4. 軟件界面簡潔，模塊化設計，功能清晰，易操作。
3.5. 軟件擁有數據一鍵備份，一鍵還原功能，數據導入導出記錄等，保護用戶數據安全。
3.6. 分析方法：綜合應用經驗系數法、基本參數法。
3.7. 多種數據算法，根據不同基體樣品，配備不同算法，提儀器測試度。
3.8. 譜圖疊加對比功能可以很方便的進行歷史譜圖與現測譜圖的對比，從而發現來料的變化趨勢，建立更的風險防范能力。
產品增值服務
4.1. 不同權限用戶登錄管理操作
可以選擇管理員和操作員兩種權限用戶登錄，系統自動記錄不同人員所測試過的樣品情況，以便追溯。
4.2. 樣品測試結果跟蹤控件
可以對測試的樣品進行分類選擇，例如供應商，種類，拆分號等信息，結果統計時選擇不同的信息可以歸類統計，以便跟蹤同一供應商或者同一物料的長期狀態。
4.3. 選配增加鍍層厚度檢測，確認供應商提交的鍍層產品質量合格。
重要部件配置
5.1. 采用Si-Pin分辨率達145ev進口探測器。可以選配126ev分辨率的SDD探測器。
5.2. 50kV1mA的激發電源，設計連續工作壽命5年以上。
5.3. 50KV1mA的X射線發生器，鈹窗厚度200um，設計連續工作壽命15000小時以上。
5.4. 濾光系統為復合的5種濾光片組合，系統自動切換。
5.5. 準直器為3種規格配置：1mm，3mm，5mm。
儀器其他規格參數
6.1. S6000改觀尺寸：長寬550×330×430mm；
6.2. 樣品腔尺寸：長寬435×245×145mm；
6.3. S6000凈重38kg；環境溫度10-25℃；
6.4. 額定功率280W；
6.5. 樣品支撐薄膜厚度6um；
6.6. 電腦控制連接方式USB
無鹵元素檢測儀
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