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PS-10000V高壓絕緣電阻測試儀于試驗室或現場做絕緣測試試驗。內含高精度微電流測量系統、數字升壓系統。只需要用一條高壓線和一條信號線連接試品即可測量。測量自動進行，結果由大屏幕液晶顯示，并將結果進行存儲。

主要特點

采用32位微控制器控制，全中文操作界面，操作方便。

自動計算吸收比和極化指數，自動儲存15秒、1分鐘、10分鐘的數據便于分析。

輸出電流大，短路電流≧5mA?？?力強，能滿足超高壓變電站現場操作。

測試完畢自動放電，并實時監(jiān)控放電過程。

內附可充電電池和充電器，充滿電可連續(xù)使用6～12小時。

帶有RS232串口，具備電腦操作儀器的功能。（選配）

主要技術性能

     顯示方式：數字和模擬指針雙顯。 溫度測量：-45℃～125℃

     試驗電壓范圍：250v,0.5Kv ，1KV，2.5KV，5KV /10KV精度10%±100V

     短路電流：≧5mA   測量時間：1分鐘～10分鐘（與測量方式有關）

     充電電源：16.8v  ,

 工作環(huán)境：溫度-10～40℃，相對濕度20～80％。

操作部件功能

1.L接線端 :“L”為高壓輸出端，稱為線路端，由高壓電纜引至被測線端，例如接至電機繞組、電纜線芯。

2.G接線端 :“G”稱為屏蔽端，用于三電極法測量絕緣材料或電纜的體積電阻，它接至三電極的保護環(huán)端。

3.E接線端 :“E”稱為地端，接至被測物的地、零端。例如電機外殼金屬、變壓器鐵芯、電纜屏蔽層。

4、注意事項及其它

請注意安全，L為高壓端！E為地端,必需接大地！ 

影響電阻或電阻率測試的主要因素

 a．環(huán)境溫濕度

  一般材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對而言，表面電阻(率)對環(huán)境濕度比較敏感，而體電阻(率)則對溫度較為敏感。濕度增加，表面泄漏增大，體電導電流也會增加。溫度升高，載流子的運動速率加快，介質材料的吸收電流和電導電流會相應增加，據有關資料報道，一般介質在70C時的電阻值僅有20C時的10％。因此，測量材料的電阻時，必須指明試樣與環(huán)境達到平衡的溫濕度。

 b．測試電壓(電場強度)

  介質材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內保持不變，即歐姆定律對此并不適用。常溫條件下，在較低的電壓范圍內，電導電流隨外加電壓的增加而線性增加，材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后，由于離子化運動加劇，電導電流的增加遠比測試電壓增加的快，材料呈現的電阻值迅速降低。由此可見，外加測試電壓越高，材料的電阻值越低，以致在不同電壓下測試得到的材料電阻值可能有較大的差別。

  值得注意的是，導致材料電阻值變化的決定因素是測試時的電場強度，而不是測試電壓。對相同的測試電壓，若測試電極之間的距離不同，對材料電阻率的測試結果也將不同，正負電極之間的距離越小，測試值也越小。

  c．測試時間

  用一定的直流電壓對被測材料加壓時，被測材料上的電流不是瞬時達到穩(wěn)定值的，而是有一衰減過程。在加壓的同時，流過較大的充電電流，接著是比較長時間緩慢減小的吸收電流，后達到比較平穩(wěn)的電導電流。被測電阻值越高，達到平衡的時間則越長。因此，測量時為了正確讀取被測電阻值，應在穩(wěn)定后讀取數值或取加壓1分鐘后的讀數值。

  另外，高絕緣材料的電阻值還與其帶電的歷史有關。為準確評價材料的靜電性能，在對材料進行電阻(率)測試時，應首先對其進行消電處理，并靜置一定的時間，靜置時間可取5分鐘，然后，再按測量程序測試。一般而言，對一種材料的測試，至少應隨機抽取3～5個試樣進行測試，以其平均值作為測試結果。

d．測試設備的泄漏

  在測試中，線路中絕緣電阻不高的連線，往往會不適當地與被測試樣、取樣電阻等并聯，對測量結果可能帶來較大的影響。為此：

  為減小測量誤差，應采用保護技術，在漏電流大的線路上安裝保護導體，以基本消除雜散電流對測試結果的影響；

  高電壓線由于表面電離，對地有一定泄漏，所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導線作為高壓輸出線并盡量縮短連線，減少，杜絕電暈放電；

  采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測試臺和支撐體，以避免由于該類原因導致測試值偏低。

   e．外界干擾

   高絕緣材料加上直流電壓后，通過試樣的電流是很微小的，極易受到外界干擾的影響，造成較大的測試誤差。熱電勢、接觸電勢一般很小，可以忽略；電解電勢主要是潮濕試樣與不同金屬接觸產生的，大約只有20mV，況且在靜電測試中均要求相對濕度較低，在干燥環(huán)境中測試時，可以消除電解電勢。因此，外界干擾主要是雜散電流的耦合或靜電感應產生的電勢。在測試電流小于10-10A或測量電阻超過1011歐姆時；被測試樣、測試電極和測試系統均應采取嚴格的屏蔽措施，消除外界干擾帶來的影響。

儀器的配套性