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RLE-ME04-光學系統傳遞函數測量實驗
  • RLE-ME04-光學系統傳遞函數測量實驗
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貨物所在地:天津天津市

更新時間:2025-02-06 21:00:05

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實驗簡介:

光學系統像質評價工程上主要采用分辨率法和光學傳遞函數(MTF)測量法。分辨率法測量多用于大像差系統,實驗簡便直觀;MTF測量法適用于一些高分辨率的光學系統。以上兩種測量方法已廣泛應用于工程實實踐中。本實驗參照《工程光學》教材中“光學系統的像質評價”相關知識點設計開發而成。

 

實驗內容:

1、分辨率板直讀法測量光學系統分辨率實驗;

2、利用變頻朗奇光柵測量光學系統MTF值實驗;

3、基于線擴散函數測量光學系統MTF值實驗。

 

主要設備參數:

1.平行光管組件:

光源:白光/三色LED,P>1W,亮度連續可調;

平行光管:D/F=1:8,L=550mmf=400mm

MTF目標物:線寬度10μm,精度1μm

2. 測試組件:

變頻朗奇光柵;美軍標USAF1951分辨率板,分辨力1228C/mm,精度1μm。

3. 機械組件:

精密光學導軌: L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調節支座、支桿;高精度調節鏡架,穩定性 <2′。

4. 光學組件:

光學透鏡:Φ40mm,光潔度III級,f=150300mm 。

5. 探測器組件:

數字CMOS相機:130萬像素,像素大小5.2μm×5.2μm,usb2.0,A/D10bit 。

6. 講義及快速安裝指南。

7. 軟件組件:

相機標定模塊,光學系統分辨測量模塊,MTF計算模塊。

 

選配設備參數:

1、儀器設備防塵罩:外形尺寸:1400mm×360mm×300mm;觀察窗材料:亞克力透明擋板。

2、計算機(基本配置)。

 

實驗

 

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