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35型和35DL型-超聲波精密測厚儀

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貨物所在地：國外

更新時間：2024-12-02 21:00:07

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藥典分析儀器

原子吸收

分析儀器附件: 溴化鉀碎晶紫外比色皿紅外附件

光學元件

光學平臺及光具座系列: 精密光學平臺

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產品簡介詳細介紹

在大多數應用中都可應用35型和35DL型
35型和35DL型測厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。

應用
• 從薄到厚的大多數材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸