安立 Anritsu MP2110A功能縮短測量時間
借助這款內置 BERT 和采樣示波器的一體化儀器，可在顯示眼圖的同時立即捕獲測量結果。因此，一眼就能看到評估多通道光學模塊/裝置所需的全部測量結果，大大縮短了測量時間。
BERTWave MP2110A 可同時對 2 個通道執行高速采樣，速率高達 250,000 采樣點/秒。另外，內置的自動波罩余量測試功能只需約 5 秒就能捕獲 100 萬個 25 Gbit/s 信號樣本，與上一代儀器相比，眼圖分析時間大約縮短 65％。
QSFP28 100 Gbit/s（25 Gbit/s × 4 通道）測量條件下的眼圖分析時間比較
BERTWave MP2110A 采樣示波器擁有測量 100 GbE 和 OTU4 等模塊以及光學模塊中光學裝置所需的全部性能。
寬帶 O/E 確保所捕獲的直接調制光學信號和長途通信光學模塊的特性比前幾代儀器更加準確。
而且，靈敏度高達 -15 dBm（典型值，SMF），在配備光開關等元件的測量系統中，即使這些元件可能導致信號衰減，也能測量 DUT 眼圖和波罩余量。另外，采樣示波器采樣器的噪聲為 3.4 µW（典型值，SMF），也可以安裝典型值為 200 fs rms 的高精度觸發選項。高性能確保測量準確，以提高生產線產量。
典型光學信號波形
在標準配置下，BERTWave MP2110A BERT 以 24.3 Gbit/s 至 28.2 Gbit/s 的比特率運行。此范圍可以選擇性地擴展，以支持 9.5 Gbit/s 至 14.2 Gbit/s 的比特率，從而能夠將其用于包括 10 GbE 和 100 GbE 在內的各種應用領域。
BERTWave MP2110A PPG 的數據抖動低至 600 fs rms（典型值），可準確地測量光學模塊、光學裝置等的特性。另外，25 mV（典型值）ED 支持對產生路徑傳輸損耗的低幅度信號執行 BER 測量，從而有助于提高 DUT 產量。
25.78125 Gb/s 電氣回路波形（PRBS 31，幅度 200 mV，精密觸發器選件“開”）
支持的測量包括：0 電平、1 電平、SNR、眼圖閉合率、眼圖振幅、眼圖高度、眼圖寬度、抖動 p-p、抖動 RMS、消光比、上升時間、下降時間、占空比失真、平均功率、OMA 等。
測試很簡單，因為模板余量測試是自動執行的。此外，模板余量測試僅需約 1 秒鐘，使得可在更短的時間里高速執行合規性測量，從而提高了生產線的生產率。
利用組數據分布的平均值、 標準誤差和散布情況進行波形數據成分分析，使排除故障更輕松。
可將測得的波形數據保存下來供參考， 從而能夠將當前的數據與之前的數據進行對比。
借助每個通道的同步功能，只需設置 BERTWave MP2110A 的一個通道即可同時設置所有通道；而且由于可以更改每個通道的測試模式，所以執行有源光纜 (AOC) 和直接連接電纜 (DAC) 系統等多通道傳輸設備要求的串擾測試會變得容易。此外，支持多達 2 個通道的光學眼圖分析。
而且，MP2110A 保留了 BERTWave 系列所有型號設置簡單、界面易用的優勢；向后兼容 MP2100B 的遠程命令，確保儀器升級毫無煩憂。另外，內置 PC 帶來的穩定運行確保在任何操作環境下都能獲得出色的性能。
以前的測量系統極其復雜，因為需要單獨使用 BERT 作為信號源，再使用采樣示波器執行眼圖分析。集成了 BERT 和采樣示波器的一體化 BERTWave MP2110A 大地簡化了測量系統的配置。
由于 4 通道 BERT 和雙通道采樣示波器安裝在一個機柜內，因此測量系統的配置和控制變得更加方便，能夠同時執行多通道 QSFP28 等光學模塊和光學裝置的 Tx/Rx 測量。增加通道數可縮短多通道光學模塊和裝置的測量時間，否則各通道單獨測量可能需要較長的測量時間。
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