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chroma A712306 液晶模組自動測試系統用閃爍量測探頭

主要特色：可與液晶模組自動測試系統整合進行液晶模組自動閃爍調整可整合Chroma 29XX系列液晶模組自動測試系統支援FMA和FLVL閃爍量測模式調整演算法，調整速度快搭配使用LCM Master軟體，可自行編輯調整腳本提供防碰撞、防靜電及防電磁干擾的保護套，可適用各種惡劣的使用環境

Chroma A712306 LCM 自動測試系統用閃爍量測 探頭，系專為液晶模組自動閃爍調整應用所設 計，依循視頻電子標準協會（Video Electronics Standards Association, VESA）所規范的FMA (Flicker Modulation Amplitude)及JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)量測方法進行閃爍程度的量測，搭配 使用Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統可 達到自動閃爍調整的目的。Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統的主要 目的為提供待調整液晶模組的電源及訊號，依據 不同的介面及尺寸可選購不同的型號及配件，透 過291x LCM ATS并可控制 A712306依據VESA所定 義的FMA及JEITA 兩種量測方法將閃爍值取回， 據此進行判定，當閃爍值大于規格值時將透過閃 爍調整介面對待測物進行Vcom電壓的調整，搭 配的閃爍調整演算法可快速的在數秒內完成 整個調整程序。Chroma 291X系列液晶模組自動 測試系統所搭配的自動閃爍調整程式并可針對不 同型號的待測物編輯不同的腳本，不需再進行軔 體的燒錄，可彈性的適用于市面上大部份具備數 位Vcom功能的液晶模組，可有效提升生產業者 的測試效率，降低測試設備及人工成本。FMA量測原理 假如液晶顯示器的亮度變化如下圖所顯示，亮 度的AC成份等于Vmax-Vmin, 亮度DC成份等于 (Vmax+Vmin)/2。根據VESA FMA 計算公式： FMA= AC lux. / DC lux. = (Vmax-Vmin)/{ (Vmax+Vmin)/2} x 100%

FLVL量測原理 FLVL的量測方法，為將A712306的量測到的資 料，傳送到符合人眼感受flicker的濾波器中，再 將資料輸出到FFT分析儀，利用FFT分析儀得到不 同頻率的能量分布。JEITA標準Flicker計算方式： P0 表示頻率0時的功率頻譜 Px 表示在不同頻率時的功率頻譜。 Flicker amount = 10 x log (Px/P0) [dB]A712306 液晶模組自動測試系統用閃爍量測探頭

深圳市美佳特科技有限公司（簡稱“美佳特"）成立于2010年，致力于光通訊測試、通用電子測量及5G測試服務。美佳特以“無線溝通，溝通無極限 "企業使命，業務聚焦于精密測試測量儀器的租賃、銷售、維護、計量及測試環境搭建等一站式服務。A712306 液晶模組自動測試系統

主營產品：示波器主機和模塊、眼圖儀、光譜儀、信號源、頻譜分析儀、網絡分析儀、阻抗分析儀、光通信儀器、誤碼儀、光時域反射儀、可調諧激光源、光功率計、光衰減器等。合作品牌：安捷倫、是德、泰克、安立、愛得萬、安騰、力科、馬可尼（IFR）、R&S、EXFO等。A712306 液晶模組自動測試系統

主推：Agilent 86100D/C 示波器,keysight M8195A 任意波形發生器,Anritsu MS9740B/A 光譜分析儀,YOKOGAWA AQ6370D/E 光譜分析儀,keysight N1092A/C 采樣示波器,keysight E8257D 模擬信號發生器,keysight E5071C 矢量網絡分析儀