久久无码人妻一区二区三区午夜_久久久久精品久久久久影院蜜桃_亚洲综合欧美色五月俺也去_交换娇妻呻吟声不停中文字幕

主要特色：相容于混合式 PXI四象限輸出高精密/量測解析度(多重檔位)低雜訊輸出高速量測 (100k s/S)高輸出轉(zhuǎn)換率 (Slew Rate)可存取之量測記錄檔DIO 觸發(fā)位元硬體序列引擎-輸出可程式化可編程阻抗輸出浮接 & 護衛(wèi) (Guarding) 輸出16 組頻寬選擇主從控制模式LabView / LabWindows & C/C# API 驅(qū)動程式軟體控制面板，chroma 52400 series 高精準電源量測單元

Applications半導體測試LED / LD 測試電池測試電晶體量測太陽能電池測試電動車測試航太電子測試電力電子測試感應器測試52400系列電源量測單元 ( SMU， Source Measurement Unit) 為相容于混合式 PXI 模組設計，可安裝于PXI或 PXIe機箱。52400 SMU 是一款可進行高精密電壓/電流供應源或負載模擬，同時又可精確量測電流/電壓值之綜合高精密儀器設備。52400 系列電源量測單元具備四象限輸出功能，不單精確且具備高速量測性能。這些特性使得52400 系列適合進行精確的參數(shù)量測，應用范圍包含 ICs、發(fā)光二極體 (LEDs)、雷射二極體 (Laser Diodes)、電晶體 (Transistors)、太陽能電池 (Solar cells)、鋰電池 (Batteries) 以及其他半導體元件。為符合各種量測條件，52400系列電源量測單元提供16段頻寬控制供使用者選擇穩(wěn)定的控制回路。多重檔位加上18-bit DAC/ADC 提供佳程式、量測解析度，取樣頻率 (Sampling Rate) 達到100k s/S，特殊可編程輸出阻抗可提供使用者設定電池內(nèi)部串聯(lián)電阻，此特性讓52400 系列電源量測單元成為理想的電池模擬器。標準6線式 (±force, ±sense 與 ±guards ) 接線，專門針對行動裝置 IC 與感應器測試等類型之低電流量測應用，可防止任何泄漏電流 (Leakage Current) ，并降低量測時間 (Settling Time)， 大幅提高量測精度及速度。52400 系列電源量測單元內(nèi)建硬體時序引擎， 使用時序 (deterministic timing) 控制每個電源量測單元，即使未與電腦連接使用，量測程序仍可正常執(zhí)行；時序引擎內(nèi)建 32k 讀值儲存記憶體，可同步化進行數(shù)個模組卡片的量測程序，并確保無任何輸出及量測之時間延遲。52400 系列電源量測單元提供 C/C# 與 LabView /LabWindows 應用程式介面 (APIs) 及軟體控制面板，加上模組卡背面的接頭，相容于PXI 與 PXIe機箱，提供客戶工業(yè)標準規(guī)格 PXI 或 PXIe 進行系統(tǒng)整合，執(zhí)行各種測試應用。四象限輸出52400 系列電源量測單元皆設計為四象限輸出操作 (Four-Quadrant operation) ，可供應電壓/電流源或模擬負載 (Load Simulation)，當模擬負載時[Sink Mode ; II、Ⅳ 象限]，PXI機箱對于每個插槽有 20W的標準散熱限制，而對高功率模組，此散熱限制則會造成不對稱之象限輸出范圍。下列圖示分別為52400系列 電源量測單元四象限輸出圖示:FOUR QUADRANT OPERATION 控制頻寬選擇為縮短測試時間，52400 系列電源量測單元皆設計為快速反 應、高速電壓與電流輸出。然而，待測物 (DUT) 的阻抗、治 具或電源線都有可能成為整個控制回路在電壓或電流輸出模 式下不穩(wěn)定的潛在因素。一個不穩(wěn)定的控制回路可能造成過 飽和震蕩，甚至損壞待測物。因此，使用者可能需要在測試 治具中增加電容器，讓系統(tǒng)重新獲得穩(wěn)定。52400系列電源量測單元提供使用者 16 個控制頻寬選擇，此 功能可免去對待測物的控制電路增加電容之困擾。此設定可 做為測試程式參數(shù)的一部分，頻寬選項的選擇也可隨待測物 做相對改變。 SMU Output Waveform under Different Control Scene 硬體時序引擎52400系列電源量測單元硬體序列引擎是一功能強大工具，此工具 可以預先設定程式指令，讓儀器按步驟執(zhí)行指令，即使未與電腦連 接使用，量測程序仍可執(zhí)行，同時確保輸出及量測上無任何時間延 遲。以半導體測試為例，量測速度與時序控制非常重要，此時使用 時序引擎功能即可達到佳測試效能。此模式中，一旦儀器接收到觸發(fā)訊號，硬體將逐行執(zhí)行在時序表中 的指令，右圖為軟體控制面板中之時序引擎設定螢幕畫面。chroma 52400 series 高精準電源量測單元

低電流量測技術護衛(wèi)輸出 (Guarding) 的應用在低電流 (< 奈安) 量測時是一項很重要的技術。護衛(wèi)輸出可以避免漏電流的問題，并降低量測穩(wěn)定時間，此輸出可保 持與主輸出 (Force) 為同電位，如此在護衛(wèi)輸出與主輸出間不會有電流產(chǎn)生。護衛(wèi)輸出同時也消除了電源量測單元與待測體之間導線的電容，使得 量測變得快速且精準。GUARDING FOR LOW CURRENT APPLICATION 主從控制模式52400 系列電源量測單元支援主從輸出模式 (Master/Slave operation) ， 在供電壓-測電流 (FVMI) 模式下，需要較高電流時，可發(fā)揮佳彈性化 應用，為達到模組間電流共享目的，52400 系列電源量測單元可支援 類似型號的通道并聯(lián)，形成較高電流/功率輸出。電流共享是將其中一通道在供電壓-測電流 (FVMI) 模式下設為主控單元 (Master)，其他通道則需設為供電流-測電壓 (FIMV) 模式，主控單元的 輸出電壓值設為量測應用需要的電壓值，而其電流值為其他單元在供 電流-測電壓模式下之設定電流。右圖為在主從控制控模式下，單元并聯(lián) 方式的示意圖。 MASTER/SLAVE OPERATION 軟體控制面板當52400 系列電源量測單元標準配件中提供軟體控制面板 (Soft Front Panel) 讓使用者執(zhí)行驗證測試與除錯功能。此軟體控制面 板具有圖形使用者介面 (GUI)，方便使用者設定輸出模式、范圍 與輸出值；同時，量測到的電壓或電流讀值將顯示在畫面上供使 用者讀取，52400 系列軟體控制面板亦可同時控制兩個通道的輸 出與量測值。52400 系列軟體控制面板同時包含硬體序列引擎的設定功能，在 上一頁中有詳述，使用者可儲存多個預先定義好的程式指令于電 腦中，日后即可依照這些程式指令做為多種變化的測試應用。 VERSATILE SOFT FRONT PANEL 應用范例半導體測試應用中的電池模擬裝置電源 (Device Power Supply; DPS) 可提供電壓用以驅(qū)動半導體 IC。隨著行動通訊的普及，裝置電源可以來自 AC/DC 配接器或鋰電池，測試電源 管理裝置需要動態(tài)范圍，不論ICs 的峰值電流或微小電流，52400 系列電源量測單元均可在各種情況下，精準的提供或量測電流，因此，在輸 入電流動態(tài)范圍下，不僅需要快速，同時更需要精確的量測。為符合此需求，52400 系列電源量測單元提供了10 個電流量測 檔位，以及 100k s/S 的取樣頻率，確保瞬間 (burst) 電流及穩(wěn)態(tài) (quasi-state) 電流高速且精確之量測。電池模擬應用中，52400 系列電源量測單元提供的阻抗特性，可 產(chǎn)生真實電池應用中由電池內(nèi)部的阻抗所造成的電壓瞬時跌落 (Voltage Dip)。當待測物 (DUT) 被量測的電壓值呈現(xiàn)階梯波的輸出 形式，此現(xiàn)象是明顯的證據(jù)。 DPS & Battery Simulation for Semiconductor Test電晶體量測I-V (電流-電壓) 特性曲線可做為場效電晶體量測的關鍵性指標。 I-V 特性曲線的量測包括閘極泄漏 (Gate leakage)、崩潰電壓 ( Breakdown voltage) 與汲極電流 (Drain current) 等。為確保正確 的量測結(jié)果，各項量測參數(shù)需同時取得， 透過52400系列電源量 測單元同步量測功能，可供使用者快速且精確量測到這些重要參 數(shù)。如右圖所示，52400 系列電源量測單元通道 1 的輸出端 Force Hi (+Force) 連接到 MOSFET 的閘極，電源量測單元通道 2 的輸出端 +Force 則連接到 MOSFET 的汲極。MOSFET 的源極則與電源量測 單元通道 1 與通道 2 的 Force Lo (-Force) 端點連接。改變各通道 之電流與電壓的輸出值，即可掃描繪出待測物之各項 I-V 特性曲 線圖。發(fā)光二極體/雷射二極體量測諸如發(fā)光二極體 (LED) 或雷射二極體 (Laser Diode) 等之發(fā)光元件，需要電流/電壓源、負載、光功率量測，當執(zhí)行 LIV (Light-Current-Voltage) 參數(shù)量 測與量測二極體的反向特性，52400 系列電源量測單元可程式化為電流源模式，用以驅(qū)動待測物，進行正向特性量測，也可設成電壓源模式，進 行反向特性量測。進行光輸出功率量測時需要另一電源量測單元通道。光電二極體 (Photo Diode) 通常用來當作光輸出功率的感應接收器，光功率與光 電二極體的短路電流 (Short Circuit Current) 成正比關系，若無法加 偏壓至光電二極體使其成為零伏，量測精確度將受影響， 因為正向 偏壓會讓光二極體產(chǎn)生較高溫度，此影響更甚于短路電流；52400 系列另一重要特性在于可以偏壓至負電壓以補償導線所造成的電壓 降，相較于使用分流電阻進行電流量測造成偏壓，52400 系列電源 量測單元可確保量測到光電二極體之真實短路電流。52400 系列電源量測單元雙輸入通道設計及同步量測功能可取得所 有量測參數(shù)，如有多個待測物需同時進行平行測試，52400 系列電 源量測單元之小型 PXI 設計可提供高之通道密度。 Typical LIV test setup for LEDLED/Laser Diode Test 太陽能電池量測太陽能電池的基本結(jié)構(gòu)仍屬二極體結(jié)構(gòu)，因此 I-V 特性曲線是其關鍵特性。利用照光時的I-V特性曲線，可用來導出許多重要的太陽能電池的參 數(shù)，反向電壓可用來進行反向太陽能電池性能的測試，不同于一般二極體的測試，分流電阻 (Shunt Resistor) 與串聯(lián)電阻是太陽能電池的重要性能 指數(shù)。52400 系列電源量測單元具有可操作于照光時的正向偏壓負載及反向偏壓輸出特性， 此四象限輸出特性使得電源量測單元成為理想的太陽能電池 測試儀器。一般太陽光模擬器之輻射光強會有瞬態(tài)的不穩(wěn)定，使用輻射光監(jiān)視器 (Irradiance Monitor) 連接 52400 系列電源量測單元的單一通道，依照 IEC-60904-1 所定義方式來修正太陽能電池的光電流讀值至 1 sun (100mW/m2) 標準光強狀態(tài)，透過電源量測單元提供電壓與電流，進行在同一通道 內(nèi)與跨通道間的同步量測，可取得精準可靠之測試結(jié)果。

Agilent 83497A 光電時鐘恢復模塊

Agilent 8157A 光衰減儀

Agilent 81637B 快速功率計

Agilent 34570A 數(shù)字萬用表

Agilent 44476A 微波復用器模塊

Agilent 70004A 光譜分析儀

Agilent 81000FI 光纖連接器

Agilent 81002FF 積分球

Agilent 81521B 光功率計探頭

Agilent 81524A 光功率探頭

Agilent 81525A 大功率光學探頭

Agilent 81533A 接口模塊

Agilent 81533B 接口模塊

Agilent 81536A 光功率計傳感插件

Agilent 81560A 可變光衰減器

Agilent 81567A 可變光衰減器模塊

Agilent 8156A 光衰減器

Agilent 81578A可變光衰減器模塊

Agilent 81610A回損測試模塊

Agilent 81619A 光功率模塊

Agilent 81624A 光學探頭

Agilent 81625A 光功率探頭

Agilent 81633A 分布式反饋(DFB)激光器

Agilent 81635A 雙光功率傳感器

Agilent 8163A光功率計主機

Agilent 8163B 光功率計

Agilent 8164A 光波測量系統(tǒng)主機

Agilent 81650A 單法布里-珀羅激光源

Agilent 81651A 光源模塊

Agilent 81654A 法布里-珀羅激光源

Agilent 81662A 分布式反饋(DFB)激光器

Agilent 8168E 可調(diào)諧激光源

Agilent 83440D光波轉(zhuǎn)換器

Agilent 83480A 數(shù)字通信分析儀

Agilent 83483A 雙通道電模塊

Agilent 83486A 光電模塊

Agilent 83487A 光電模塊

Agilent 83492A 多模時鐘模塊

Agilent 83493A 單模時鐘恢復模塊

Agilent 83494A 單模時鐘恢復模塊

Agilent 83495A 時鐘恢復模塊

Agilent 83496A 光電時鐘恢復模塊

Agilent 86100A 光示波器

Agilent 86100C 寬帶示波器主機

Agilent 86103A 光電模塊

Agilent 86103B 光電模塊

Agilent 86105A 光電模塊

Agilent 86105B 光電模塊

Agilent 86106B 光電模塊

Agilent 86107A 精密時基參考模塊

Agilent 86120B 多波長計

Agilent 86120C 多波長計

Agilent 86142B 高性能光譜分析儀

Agilent 86146b 光譜分析儀

Agilent N7740 多端口光功率計

Ando AQ2140光功率計

Ando AQ2730光功率計模塊

Ando AQ2742 光功率傳感器

Ando AQ2743 光功率傳感器

Ando AQ4211LD組件

Ando AQ4215 光功率計

Andu AQ-4137 光源

Andu AQ-4142 光源

Anritsu 69347B 信號源

Anritsu MN9610B光衰減器

Anritsu ms9710c 光譜分析儀

Anritsu MS9740A 臺式光譜分析儀

CVI Melles Griot 05-LHP-211-1 激光器

Ericsson FSU-975 光纖熔接機

Exfo IQS-3150 可變衰減器

EXFO WA-1650 光波長計

HP 8153A 光功率計

HP 8153B 光波萬用表

HP 81551MM 點光源模塊

HP 83540A 插件信號源

HP 8595E 頻譜分析儀

IFR GPS-101定位系統(tǒng)模擬器

Jdsu HA9 光衰減器

JDSU OLP-55 光功率計

Keithley 7001半導體開關系統(tǒng)

Keithley 2001A 數(shù)字多用表

Keithley 2400 數(shù)字源表

Keithley 2400-C 數(shù)字源表

Keithley 2500 數(shù)字源表

Keithley 2502 數(shù)字源表

KEITHLEY 6221 電流源表

Keysight 11708A 衰減器墊

Keysight 3458A 數(shù)字多用表

Keysight 34903A GP開關模塊

Keysight 81570A 可變光衰減器模塊

Keysight 81618A 接口模塊

Keysight 81623B 鍺光功率探頭

Keysight 81630B 大功率光傳感器

Keysight 81634B 低偏振相關光功率傳感器

Keysight 81636B 光功率傳感器

Keysight 8164B 光波測量系統(tǒng)主機

Keysight 82357B GPIB 卡

Keysight 86100D 寬帶寬示波器主機

Keysight 86105C 光電采樣模塊

Keysight 86105D 光電模塊

Keysight E3631A 三路輸出電源

Keysight J7231B 抖動通信性能分析儀

Keysight N5181A 射頻模擬信號發(fā)生器

Keysight N5980A 比特誤碼率測試儀

Keysight N7744A 多端口光功率計

Keysight N7748A 高性能光功率計

Newport 818-IG高性能光電二極管傳感器

Newport 918-IG 高性能光電二極管傳感器

Newport 918-ir 高性能光電二極管傳感器

NI PCI GPIB小卡

NI PXI-1031 板卡

Photom EP-712 光功率計

Picometrix PT-12B 光電轉(zhuǎn)換芯片

R&S FSP3 頻譜分析儀

R&S NRPZ51 射頻功率計

R&S NRPZ55 射頻功率計

R&S NRP-Z55 射頻功率計

Tektronix DPP125B 誤碼儀

Tektronix 80C02 光采樣模塊

Tektronix 80E04 雙通道時域反射計

Tektronix DSA8200 采樣示波器

Tektronix DSA8300 數(shù)字采樣示波器

USHIO UXM-Q256BY點光源

YOKOGAWA AQ2200-421 單槽型光開關

YOKOGAWA AQ2201 幀控制器主機

光示波器/眼圖儀—Agilent 86100A, Agilent 86100B, Agilent 86100C, Agilent 86100D,Agilent 86105A, Agilent 86105B, Agilent 86116C, Agilent 86105D, Agilent 86103A, Agilent 86106B, Agilent 86103B, Agilent 83493A, Agilent 83496A, Agilent 86118A, Agilent 54754A，Tektronix DSA 8300，Tektronix DSA 8200，Tektronix 80C08，Tektronix 80C15，Tektronix 80C07, Tektronix 82A04，Tektronix 80E04,Anritsu MP2100B光譜分析：Agilent 86142B, Agilent 86146B,Agilent 86140B,Anritsu MS9740A,Anritsu MS 9710C,Anritsu MS9710B,Yokogawa 6317B,Yokogawa:6370D波長計：Agilent 86122A,Agilent 86120B,Agilent 86120C,EXFO WA1600,EXFO WA1650,EXFO WA1100光衰減器：Agilent 8156A,Agilent 8157A，Agilent 81570A,Agilent 81571A,Agilent 81576A,Agilent 81577A，Agilent 81567A,JDSU HA-9光萬用表:Agilent 8164A,Agilent 8164B,Agilent 8163A,Agilent 8163B,Agilent 8153A,Agilent 8166B,Agilent N7744A,Agilent N7745A,Agilent N7748A,Agilent 81632B,Agilent 81633A,Agilent 81634A,Agilent 81634B,Agilent 81635A,Agilent 81636B,Agilent 86137B,A