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產品簡介
詳細介紹
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| 超低濕試驗箱，除了可仿真產品在一般氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、結露試驗）..等，去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變，以及針對產品在（低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等）環境下是否會發生龜裂、破損，另外在低濕環境中的空氣靜電量是一般環境的30倍以上，據統計，半導體破壞率：59%是由靜電所引起的。 ※ 需符合性規范之要求（IEC、JIS、GB、MIL…）以達到間量測程序*性（含測試步驟、條件、方法）避免認知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發生。 |
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| 執行標準.中國國家標準分為強制性國標（GB）和推薦性國標（GB/T） 中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件 中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件 中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件 滿足標準 電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱 電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷 電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱 美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗 美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2 美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態 日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱 日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫 美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗 中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫 中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫 中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法 中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗 中國國家標準,GB/T2423.4-93方法 中國國家軍用環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
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售后服務承諾:
用戶的滿意是我們服務的宗旨，完善的售后服務使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業賣出去的不僅僅是一臺好的產品，更重要的是良好的服務。
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宏展儀器主營:
紫外光耐氣候試驗箱;紫外線加速耐候試驗機;高低溫交變濕熱箱;可程式恒溫恒濕試驗機;溫濕度檢定箱;高低溫恒溫試驗箱;高低溫沖擊試驗箱; 蓄溫式冷熱沖擊試驗機;步入林環境實驗室;步入式恒溫恒濕試驗室;精密烘箱;鹽水噴霧試驗機;模擬運輸試驗機;蒸氣老化試驗機;快速溫變應力篩選試驗機[ESS];其它環境試驗設備
另可依客戶要求之尺寸制作試驗室，滿足客戶的要求。
歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!
北京宏展儀器有限公司
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傳真號碼：
: 李慧
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