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產品簡介
詳細介紹
CSK-IB試塊
CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。
使用要點：
1、利用半徑R100mm 曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度
2、利用Φ50和1.5mm 圓孔測定斜探頭的折射角
3、利用試塊直角邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4、利用25mm厚度測定探傷儀水平線、垂直線和動態范圍
5、利用25mm厚度調整縱波探測范圍和掃描速度
6、利用R50和R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃苗速度
7、利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個臺階孔測定斜探頭分辨力。