I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數降至Z少,以提高生產效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
產品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數降至zui少,以提高生產效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場。
件號:521048 型號:KSC-430 標準I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸
產品關鍵字:KSC-430 標準I試片