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上海凱朗儀器設(shè)備廠
主營產(chǎn)品： DZF真空干燥箱|DZF真空干燥箱廠家|DZF真空干燥箱價(jià)格 |
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2012-6-15 閱讀(1321)
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下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 2421 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) *部分：總則（idt 60068-1：1988）
GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫
GB/T 2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.7 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒
GB/T 2423.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落
GB/T 2423.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
GB/T 2423.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 一般要求
GB/T 2423.14 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 低再現(xiàn)性
GB/T 2423.16 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) J：長霉試驗(yàn)方法
GB/T 2423.17 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
GB/T 2423.21 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) M：低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.31 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB/T 2423.37 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) L：砂塵試驗(yàn)方法
GB/T 4208 外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）
上海凱朗儀器設(shè)備廠主要生產(chǎn)：生化培養(yǎng)箱,霉菌培養(yǎng)箱,光照培養(yǎng)箱,人工氣候箱,恒溫恒濕,低溫生化培養(yǎng)箱,恒溫培養(yǎng)振蕩器（搖床）系列及光照恒溫培養(yǎng)搖床系列和高低溫試驗(yàn)箱，高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱，高低溫沖擊試驗(yàn)箱，溫度快速變化試驗(yàn)箱，鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱，老化試驗(yàn)箱，真空、鼓風(fēng)、高溫干燥箱等各種環(huán)境類試驗(yàn)設(shè)備。
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