高低溫快速溫變試驗箱用途介紹

中科測試設備是快速溫變試驗箱、快速溫度變化試驗箱、步入式快速溫變試驗箱、溫度沖擊試驗箱專業制造商與供應商，通過溫變速率為15℃/min、20℃/min、25℃/min對半導體試5納米芯片、電路主板、動力電池模組、石墨烯液晶屏、華為手機屏、iPhone觸摸屏等產品進行應力篩選試驗和氣候環境可靠性試驗。中科測試設備提供具備綜合性能可靠的氣候環境試驗箱。

高低溫快速溫變試驗箱技術參數

1. 工作室容積：150L，225L，408L，800L，1000L。（可按需求定制）

2. 溫度范圍：-20℃～+150℃；-40℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。

3. 溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（可定制：線性溫變與非線性溫變）

4. 溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

5. 濕度范圍: 20%～98%R.H。（可選5%～98%R.H或10%～98%R.H）

6. 溫度波動度：±0.5℃。

7. 溫度均勻度：±1.5℃。

8. 濕度穩定度：±1.0%RH。

9. 濕度均勻度：±3.0%RH。

10.承載重量：8.0kg。

11.功率：8.0KW～35.0KW。

12.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

13.加濕系統：鈦合金護套式電加熱加濕器，濕氣均勻發生裝置。

14.加熱系統：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒空氣式加熱控溫。

15.制冷系統：*全/半封閉“泰康/比澤爾”牌壓縮機二元復疊模塊化機組制冷。

16.節能方式：冷端PID調節（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調溫方式節能30%。

快速溫變試驗箱型號及規格

 型 號        內箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

可按要求尺寸非標定制......

高低溫快速溫變試驗箱的特點：  

1.快速溫變試驗一般通過操作進行。因此，具有操作簡單易懂的特點，不會使操作人員陷入一些不必要的盲目操作；  

2.快速溫度變化試驗需要嚴格執行整個過程。因此，外觀設計一般采用平面無反作用把手，配備寬敞的大觀察窗和高亮度熒光燈，使實驗者能夠很好地觀察箱內產品的變化；  

3.由于快速溫變試驗將應用于各種產品試驗，為了避免試驗過程中出現泄漏等危險情況，有設計安全保護，既保證了試驗的穩定性，又保護了用戶的安全性；  

4.由于快速溫度變化試驗需要準確把握溫度，通常配備全毛細管主導的自動負載調節技術，該技術為試驗提供更穩定可靠的溫度，更準確地把控溫度。  

溫度指標有溫度范圍、溫度均勻度及溫度波動度，在試驗進行溫度調整時往往有著眾多因素來影響著溫度均勻度的平衡狀態，影響因素有哪些：  

1、熱負載因素：如果試驗箱工作室內放置了足夠影響內部整體熱對流的試驗樣品，就必然會在一定的程度上來影響內部溫度的均勻性，比如說放置LED照明產品，其產品自身就存在著發光發熱的情況，成為熱負載，那么對于溫度均勻度的就存在很大的影響。  

2、熱傳遞：由于工作室的箱壁前后左右上下6個面的傳熱系數不同，因有的有穿線孔、檢測孔、測試孔等小細節的設計會導致局部有散熱、傳熱，使設備箱體有溫度不均勻現象，而使箱壁輻射的對流傳熱也會不均勻，影響溫度均勻。  

3、熱輻射：設計上的問題導致試驗箱在內部結構、空間的設計很難達到均勻的對稱結構，而不對稱的結構必然會導致內部溫度均勻度產生偏差，這個層面它最主要的是反映在鈑金設計與它的處理兩方面，比如風道的設計、發熱管的放置位置、風機功率的大小等原因。  

4、密封性：箱體和門密封性不嚴，比如：密封條非定制的有接縫以及大門漏氣等，從而影響工作空間的溫度均勻性。  

5、箱體結構：由于箱內壁結構不同，所以導致試驗箱內壁的溫度也會不均勻，進一步的對工作室內的熱對流形成影響從而造成內部溫度均勻度產生偏差。