Chroma 3110-FT 三溫測試分類機

三溫 測試分類機同時包含預溫區(qū)，可改善測試時間及產(chǎn)出;配有2個自動分料盤及2個手動分料盤，在僅1.4平方米的空間發(fā)揮的IC分料能力以節(jié)省成本與時間。

整合色度混合型冰水機與TEC致冷晶片溫度控制器后，3110-FT可于進行測試三溫測試時，同時控制殼溫及接面溫度。

3110-FT可支援大部分產(chǎn)業(yè)的標準通信介面以及提供不同種類測試設備的對接方式?？删珳士刂茰囟确秶鷱?40℃到125℃。具有易于操作的軟體介面以及可快速更換待測產(chǎn)品之設計。將可大幅縮短停機時間而進一步提高使用效率及產(chǎn)能。

Chroma 3110-FT 三溫測試分類機的特色：

• 可設定溫度范圍 -40℃~125℃
• 適用于 FT測試
• 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm
• 控制下壓觸力在1到10 kg (Optional)
• 具有4個產(chǎn)品分類料盤
• 支援遠端控制操作
• 具有測試良率控制功能
• 具有連續(xù)自動重測功能
• 具有即時監(jiān)控產(chǎn)品分類功能
• 整合Chroma混合型冰水機
• 支援 TSD 溫度控制
• 工程三溫特性測試平臺
• UPH 大可達500 pcs
• 控制下壓觸力在1到10 kg (選配)
• Socket溫度補償模組 (選配)
• 可支授系統(tǒng)層級測試 (SLT) (選配)