產品概述1
功能強大：是工程師用來分析半導體器件特性的電子測試設備，可對晶閘管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET 等各種功率半導體進行直流參數表征。
高壓大電流：具備高電壓和電流源，電壓高達 3000V，電流可達 400A，可滿足高功率器件的測試需求。
測量精度高：具有內置光標測量功能，包括點、窗口和功能線光標，可進行高精度測量。還支持開爾文感應測量，能提高測量的準確性。
多種測量模式：具有掃描測量模式，可自動構建一系列曲線，同時用低占空比脈沖刺激設備，能在不使設備過度加熱的情況下顯示功率曲線。
數據處理與存儲：可編程，支持波形比較和平均等功能。配備 1.44MB 軟盤存儲設置和曲線位圖，也可通過 GPIB 控制器將數據發送到外部設備進行存儲和處理。
使用方法
設備連接：將被測半導體器件通過合適的測試夾具連接到 371B 上，確保連接牢固且符合開爾文感應測量的要求，以保證測量的準確性。測試夾具可容納帶開爾文感應功能的標準適配器，能為被測器件提供安全的外殼，保護操作員安全。
參數設置：根據被測器件的類型和測試需求，通過前面板或 GPIB 控制器設置各種操作參數，如電壓、電流、掃描范圍、觸發條件等。可參考儀器的操作手冊和相關技術資料，以確定合適的參數設置。
測量與分析：設置好參數后，啟動測量過程。371B 會將掃描電壓施加到被測器件的兩個端子，并測量每個電壓下的電流水平，自動構建出器件的特性曲線。使用內置的光標測量功能，可獲取曲線中的具體數據，如點光標可直接讀取任意點的電壓、電流、跨導（gm）或直流電流放大系數（DC beta）；窗口光標可用于測量兩條曲線之間的小信號 beta 或 gm，也可進行視覺通過 / 不通過測試；功能線光標能提供斜率或截距值的屏幕讀數。
數據存儲與比較：測量完成后，可以將特性曲線和相關測量數據存儲到軟盤或內部非易失性存儲器中。最多可存儲 80 條數字化特性曲線，還可用最多 24 個字符的文本對曲線數據進行標記或注釋，方便后續查找和識別。需要時，可將實時曲線與先前存儲的曲線進行比較，以評估溫度漂移或操作參數的其他變化。
結果輸出：可使用三方打印機直接打印硬拷貝，輸出測量結果和特性曲線，以便于記錄和分析。也可通過 GPIB 控制器將數據發送到計算機或其他外部設備，利用相關軟件進行進一步的數據處理和報告生成。
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