- 獲得的測量和設計成果
- 通過取代大量機架式和堆疊式設備來簡化測試站
- 通過全面、靈活的單次連接微波測試引擎可提高生產效率
- 使用廣泛的單次連接測量應用軟件可縮短測試時間
- 使用出色的 PNA-X 儀器更精確地測試線性和非線性器件的特征
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Anritsu/安立
- Keithley/美國吉時利
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- ADCMT/愛德萬
- FUJIKURA/藤倉
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- LitePoint/萊特波特
- SUMITOMO/住友
- OLYMPUS/奧林巴斯
- Ceyear/思儀
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- 古河蓄電池
- Bristol/美國
- Newport/美國
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- SIGLENT/鼎陽
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- Ophir
- BIRD/美國鳥牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- Siemens/西門子
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
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