General Photonics PDL - 201 是一款基于的大值 / 小值搜尋法（符合 TIA/EIA - 455 - 198 標準）設計的偏振相關損耗（PDL）、插入損耗（IL）和光功率多功能測試儀。其產品概念是為光通信器件的生產制造、研發測試以及光纖傳感等領域提供高精度、快速的偏振相關參數測量解決方案。主要特點如下：
測量功能豐富：能同時測量器件的偏振相關損耗（PDL）、插入損耗（IL）和光功率，全面滿足光器件參數測量需求。
測量精度高：PDL 和 IL 的測量精度均為 ±(0.01 + 5% of PDL 或 IL) dB，分辨率達 0.01dB，在高、低 PDL 和各種偏振狀態下都能準確測量。
寬波長范圍：工作波長范圍為 1260 - 1620nm，覆蓋了光通信常用的 C 波段等，無需校準即可適應多種波長的光信號測量。
測量速度快：測量速度僅為 30ms，可快速獲取測量結果，提高測試效率，適合生產線上的快速檢測和實驗中的實時測量。
動態范圍大：PDL 和 IL 的動態范圍均為 0 - 45dB，光功率范圍為 - 40 - +6dBm，可適應不同性能光器件的測量。
接口多樣：具備 USB、以太網、RS - 232 和 GPIB 接口，方便與計算機連接，實現遠程控制和數據傳輸，易于集成到自動化測試系統中。
顯示與輸出：具有 OLED 圖形顯示屏，可清晰顯示測量數據，便于操作和查看。同時提供用戶可配置的模擬監控器電壓輸出，以監控 PDL 值。
體積小巧：儀器尺寸為 356mm×216mm×89mm，體積小，重量輕，便于攜帶和在不同場所使用。
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