產品描述：
Evolution 201紫外可見分光光度計是賽默飛世爾公司推出的一款具備多功能性和高生產率的實驗室分析儀器。它采用雙光束設計，能夠扣除背景的影響，并具備光學匯聚技術，使得在測試微量樣品時僅需極少量樣品即可獲得準確的測量結果。
特點：
雙光束設計，參考光束可扣除背景的影響
光學匯聚技術，在測試微量樣品時只需40 μL樣品，在選擇光纖模塊和材料模塊時測試性能比同等檔次儀器性能優化5 倍，為您在微量樣品，光纖測試和固體樣品應用帶來極大的優勢
特殊的光學設計，可開蓋檢測樣品
- 通用測試儀器
-
測量頭 調節器 測試電纜 測試儀 光纖認證儀 測試平臺 測試頭 映射器 采樣示波器模塊 穩定光源 背反射器 瞬斷器 檢測器 激光鎖 損耗計 反射計 可調諧濾波器 電氣遠程采樣頭模塊 偏振態光學測試儀 階段參考模塊 光采樣模塊 寬帶光源 精密反射儀 參考發射模塊 混合信號 函數發生器 全自動RIE反應離子刻蝕機 掃描電鏡納米壓痕儀 濕法刻蝕顯影機 三維X射線顯微鏡 原子力顯微鏡 分光光度計 真空離子規模塊 光學氣體熱像儀 多功能酶標儀 萬用表 便攜式分析儀 矢量測試儀 波形發生器 微波網絡分析儀 主頻標準 偏置網絡 矢量網絡分析儀 可調諧激光源 網絡測試儀 噪聲系數分析儀 光時域反射計 阻抗分析儀 偏振光源 式紫外線標準8頭點光源固化設備 電機 脈沖中等電流源表模塊 光波測量系統 光通訊測試儀器 數字電視測試儀器 信號分析儀 信號發生器
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Anritsu/安立
- Keithley/美國吉時利
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- FUJIKURA/藤倉
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- LitePoint/萊特波特
- SUMITOMO/住友
- OLYMPUS/奧林巴斯
- Ceyear/思儀
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- 古河蓄電池
- Bristol/美國
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Newport/美國
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- SIGLENT/鼎陽
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- Ophir
- BIRD/美國鳥牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- Siemens/西門子
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
化工儀器網