WA-1150波長計光波長計提供zui高精度的波長測量，同步功率測量，專為在制造環(huán)境中表征WDM組件而設(shè)計。
這些系統(tǒng)采用Burleigh經(jīng)過驗證的掃描邁克爾遜干涉儀波長計技術(shù)，通過比較其干涉條紋圖案與內(nèi)置HeNe激光波長標準的干涉條紋圖案來確定測試激光的波長。與其他波長計不同，所有可能影響波長測量的因素都考慮在內(nèi)，以便使用WA-1150實現(xiàn)±1 ppm的zui高波長精度。
為了提供更完整的WDM組件分析，這些Wavemeter同時測量光輸入信號的總功率。此外，漂移功能可根據(jù)時間自動監(jiān)控波長或功率的任何變化。顯示當前值及其與測量起始點的偏差，以提供測試激光的實時狀態(tài)。還報告了大值和小值，以給出測量期間達到的極限。
在這些系統(tǒng)中已經(jīng)結(jié)合了幾種針對WDM組件制造商需求的設(shè)計考慮因素。通過內(nèi)置的HeNe激光波長標準，系統(tǒng)的精度可以長時間保持，無需校準。測量周期時間短至0.1秒，提高了波長表征的效率。堅固耐用的臺式或機架式封裝可大限度地減少典型制造環(huán)境中的任何不利影響。
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