吉時利半導體特性分析系統(tǒng) 其它儀器是用于器件、材料和半導體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種優(yōu)良的參數(shù)分析儀具有不可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時利交互式測試環(huán)境，
為半導體科研及產(chǎn)業(yè)用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能。
吉時利半導體特性分析系統(tǒng) 其它儀器使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
特點
內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試
自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態(tài)
檢定、 自定義
簡單地說，4200A-SCS 可以玩全自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。
特點
NBTI/PBTI 測試
隨機電報噪聲
非易失內(nèi)存設備
穩(wěn)壓器應用測試
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
“點擊"測試定序
“手動"探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試
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