Tektronix OM4245 光調制分析儀
出自高性能混合信號示波器的*
OM4245 相干光調制分析儀與 DP070000SX 系列 70 GHz 實時示波器和 DSA8300 系列 70 GHz 取樣示波器緊密集成，為您的系統配置提供zui大程度的靈活性。
OM4245 使用相干檢測來采集zui高 80 GBaud 的光纖信號，然后使用光行業測試的 DSP 功率來分析調制和信號源屬性。通過易于使用的專業用戶圖形界面提供豐富的結果和繪圖。集成動態和功能豐富的 MATLAB能力，提供zui大的分析系統定制性和可擴展性。
特征 | 優勢 |
| 通過 DPO70000SX 系列 70 GHz 實時示波器和 DSA8300 系列 70 GHz 取樣示波器完整檢定zui高 80 GBaud 的信號 | 與泰克的實時和取樣示波器緊密集成，實現經過校準的系統性能 |
| 支持多載波系統，包括 400G 超級通道 | 執行多載波系統自動測試，提供完備的通道測量結果，實現快速分析 |
| 為光信號提供*的信號處理算法 | 無需成為信號處理專家也可獲得*結果 |
| 相位或幅度調制信號的詳細分析 | Q 因子圖示：提供 BER 與判定閾值的關系和 SNR性能 |
| 支持雙偏振態傳輸 | 觀察偏振狀態和消光比 |
| 兼容第三方相干接收機 | OM2210 可靈活支持現在和將來需求 |
| 直接 MATLAB 接口 | 允許修改任何變量進行可定制的快速分析 |
| 系統內置兩路窄線寬 ECDL 激光 | 幫助快速校準驗證 |
化工儀器網