時間：2018年12月12日 14:00 - 15:00

內容簡介：
作為應用領域廣的粒度分析設備，激光衍射粒度儀有著其它粒度分析設備沒有的更寬的測量范圍，更高的重復性，更快的測量速度以及更簡便的操作。但我們所測樣品種類繁多，粒度分布極廣，所以如何確保儀器上下限粒度的極限測量？如何確保快速準確區分單峰、多峰樣品？如何簡化并規范操作流程？這些都是我們關注的焦點。

本講座將通過對樣品的前處理探討，以及測試過程中對激光粒度儀LS 13 320 XR軟硬件設計的詳細剖析，為您快速獲知任何所測樣品的準確粒度分布提供有力保障。

主講人簡介：


史艷輕
產品應用技術專家 貝克曼庫爾特生命科學市場部

在粉體制備、顆粒表征以及顆粒特性產品應用領域工作多年，有著豐富的樣品顆粒分析和檢測經驗，現為貝克曼庫爾特公司顆粒特性和計數產品專員，負責顆粒產品的技術和應用開發等相關工作。
美國貝克曼庫爾特公司于1997年由貝克曼公司和庫爾特公司合并成立，現已成為世界的顆粒分析儀器公司。作為顆粒特性分析領域的和ling dap zhe，貝克曼庫爾特專注于為用戶創造的價值。眾多應用領域如食品、制藥、化工等和組織如美國ASTM，國家航空航天局 （NASA）等均將貝克曼庫爾特的技術和產品定為標準方法或質量控制的儀器。秉承“為客戶提供富于創新和值得信賴的科學解決方案”的使命，貝克曼庫爾特不忘初心，不斷創新，致力于為客戶提供完整的顆粒表征及粒度分析解決方案。
 

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