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　　單波長X熒光硅含量分析儀是由低功率X射線管發射的多波長X射線螢光，由雙曲面彎晶光學元件捕獲并聚焦，照射一個具有合適波長的單色X射線，可以激發樣品盒中被測樣品上硅元素K層中的電子，形成一個小點。單色主光束激發樣品并發射次級特征熒光X射線。只有波長為0.713nm的K被硅元素激發，通過第二雙曲彎曲晶體光學元件收集，通過適當的檢測器測量X射線熒光，然后使用校準方程轉換為被測樣品中的硅含量。

 

　　下面咱們來了解一下單波長X熒光硅含量分析儀的產品特點：

 

　　1、實時性：國內的儀器絕大多數都是“離線”的實驗室分析儀，個別的應用到現場的也是“旁線”式的儀表，須經過取樣、烘干、篩分、研磨、制樣等一系列繁雜的樣品前處理過程，幾個小時之后才能得到分析結果，數據結果有很大的滯后性.本產品1~3分鐘即可完成測量。

 

　　2、可靠性：采用常溫半導體探測器(SDD)，在常溫下具有與液氮下硅鋰漂移半導體探測器相同的能量分辨率，避開了儀器中的硅鋰漂移半導體探測器必須的液氮制冷裝置，大大降低了現場的維護強度，保障了操作人員的安全性，儀表現場運行穩定可靠。

 

　　3、代表性強：設計合理的測量裝置，測量池內礦漿的流動性好，并混合均勻，測量結果準確反映了礦漿的真實情況。公司可根據用戶需求提供各種類型的取樣器：重力自流取樣器、壓力取樣器、縮分取樣站、配置取樣器等。

 

　　4、適應性：測量不受濃度、粒度、氣泡、速度、分層等現場因素的影響，能夠適應各種情況復雜、條件惡劣的工業現場。

 

　　5、研制了新穎的核電子技術、核能譜分析技術，能夠對多種元素受激發后產生的復雜能譜進行全面分析處理，消除了不同元素之間的相互干擾。

 

　　6、工作狀態穩定，分析準確度高，可靠性強，操作簡單，維護方便，軟件界面友好人性化。