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實(shí)驗(yàn)問(wèn)題

        當(dāng)我們對(duì)材料做Tafel極化曲線測(cè)試時(shí)會(huì)不會(huì)有這樣的疑問(wèn)：

   為什么極化曲線測(cè)出來(lái)的腐蝕電位跟開(kāi)路電位偏差大，以至于陽(yáng)極部分與陰極部分不一樣寬？

問(wèn)題原因

   這都是由于在電位掃描時(shí)樣品表面的雙電層充放電造成的，掃描開(kāi)始時(shí)樣品表面的雙電層迅速集聚電荷使樣品極化，集聚的電荷會(huì)在掃描過(guò)程中釋放，但其速度跟不上電位掃描速度，以至于腐蝕電位會(huì)偏向于起始掃描電位一側(cè)，并且掃描速率越高這種偏移越大。此外，雙電層的充放電電流會(huì)增大實(shí)驗(yàn)誤差。

解決辦法

       解決辦法是做極化曲線雙向掃描，把雙向電流做平均，由于雙電層的充放電電流剛好反向，就會(huì)抵消掉。

由于zahner的I/E掃描是四電位參數(shù)的，雙向掃描很容易實(shí)現(xiàn)

問(wèn)題原因

      Zahner的離線分析軟件可以直接對(duì)雙向掃描的極化曲線做平均擬合，節(jié)省做大量數(shù)據(jù)處理的時(shí)間，為實(shí)驗(yàn)助力。

Zahner的離線分析軟件提供Tafel和Butler-Volmer兩種擬合方式，并且均可實(shí)現(xiàn)單向擬合和雙向平均擬合。