BISS小負載單軸扭轉(zhuǎn)測試系統(tǒng)為緊湊的臺上單軸扭轉(zhuǎn)測試系統(tǒng)，滿足各種靜態(tài)和動態(tài)測試要求。該系統(tǒng)具有*的負載和位移的控制分辨率，通過軸向、扭轉(zhuǎn)和組合軸向扭轉(zhuǎn)配置，能提供的測試能力。測試系統(tǒng)配備進行位移數(shù)字輸出的光電編碼器和靈活的可編程數(shù)字伺服控制器，能提供的控制精度和測 量，編碼器、高電平輸入信號、線性位移傳感器和力傳感器使得它非常適合于表征工程材料和測試電子元件的低負載力學測試。

BISS小負載單軸扭轉(zhuǎn)測試系統(tǒng)為緊湊的臺上單軸扭轉(zhuǎn)測試系統(tǒng)，滿足各種靜態(tài)和動態(tài)測試要求。該系統(tǒng)具有*的負載和位移的控制分辨率，通過軸向、扭轉(zhuǎn)和組合軸向扭轉(zhuǎn)配置，能提供的測試能力。測試系統(tǒng)配備進行位移數(shù)字輸出的光電編碼器和靈活的可編程數(shù)字伺服控制器，能提供的控制精度和測 量，編碼器、高電平輸入信號、線性位移傳感器和力傳感器使得它非常適合于表征工程材料和測試電子元件的低負載力學測試。

特征：

∴單柱框架適用于大500 N的力

∴可選2 Nm扭轉(zhuǎn)頭，用于雙軸加載

∴緊湊的桌面結(jié)構(gòu) ∴0.1μm位移分辨率 ∴孵化器兼容